[發明專利]基板檢測方法及基板檢測用夾具

有效

• 申請號: 201480028288.1
• 申請日: 2014-05-19
• 公開（公告）號: CN105209924B
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發明（設計）人: 山下宗寬
• 申請（專利權）人: 日本電產理德股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H05K3/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 倪斌

1.一種基板檢測方法，用于檢測包括多個單位基板的片狀基板的配線圖形，其中，各個所述單位基板具有多個多端子配線圖形，通過將兩個以上的所述單位基板的配線圖形與用于進行電檢測的基板檢測裝置相連接，用以判定所述配線圖形的良好與否，所述基板檢測方法包括如下步驟：

選出形成在一個單位基板上且成為檢測對象的一個配線圖形，以及與所述一個配線圖形相同地形成在另一單位基板上的另一配線圖形；

為了使所述一個配線圖形和所述另一配線圖形相短路，將所述一個配線圖形的任意端子與所述另一配線圖形的任意端子電連接；以及

進行所述一個配線圖形的所述任意端子以外的端子與所述另一配線圖形的所述任意端子以外的端子間的導通檢測。

2.如權利要求1所述的基板檢測方法，其特征在于用于使所述一個配線圖形與所述另一配線圖形相短路的短路端子設置在用于電連接所述基板檢測裝置與所述片狀基板的基板檢測用夾具。

3.如權利要求1所述的基板檢測方法，其特征在于用于使所述一個配線圖形與所述另一配線圖形相短路的短路端子設置在用于電連接基板檢測用夾具與所述基板檢測裝置的連接部上，其中所述基板檢測用夾具用于電連接所述基板檢測裝置與所述片狀基板。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的基板檢測方法，其特征在于至所述一個配線圖形與所述另一配線圖形的連接組合全部結束為止，進行所述一個配線圖形的所述任意端子以外的端子與所述另一配線圖形的所述任意端子以外的端子間的導通檢測。

5.一種基板檢測用夾具，在檢測由多個形成有多個具有多端的配線圖形的單位基板而連接的片狀基板的所述配線圖形時，將進行兩個以上單位基板的配線圖形的電檢測時的基板檢測裝置與所述片狀基板電連接，所述基板檢測用夾具包括：

多個接觸端子，一端與所述配線圖形的檢測點相接；

電極體，具有與所述接觸端子的另一端相接的電極部；

連接部，與所述基板檢測裝置電連接；以及

短路部，將一個具有多端的配線圖形的任意一個檢測點與不同于所述配線圖形的另一個具有多端的配線圖形的任意一個檢測點相連接。

6.如權利要求5所述的基板檢測用夾具，其特征在于，所述另一個具有多端的配線圖形，形成在與形成有所述一個具有多端的配線圖形的單位基板不同的另一個單位基板。

7.如權利要求5或6所述的基板檢測用夾具，其特征在于，進一步包括：導線部，將所述電極部與所述連接部相連接，

并且，所述短路部設置在所述導線部。

8.如權利要求5或6所述的基板檢測用夾具，其特征在于，進一步包括：保持體，按多針狀保持所述多個接觸端子。