[發明專利]光放大裝置中的輸出光功率降低的判定方法及光放大系統

有效

• 申請號: 201480018502.5
• 申請日: 2014-01-16
• 公開（公告）號: CN105103388B
• 公開（公告）日: 2018-01-30
• 發明（設計）人: 島田典昭
• 申請（專利權）人: 株式會社藤倉
• 主分類號: H01S3/10
• 分類號: H01S3/10;H01S3/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 舒艷君,李洋

技術領域

本發明涉及光放大裝置中的輸出光功率降低的判定方法，尤其涉及對來自光放大器、光纖激光器等光放大裝置的輸出光功率降低了這一情況進行判定的方法。

背景技術

在光放大器、光纖激光器中，有時因設置于內部的激發光源的故障、劣化或者其它理由從而其輸出光功率降低。作為檢測這種輸出光功率的降低的方法，以往提出有一些方法(例如參照專利文獻1～3)。

在專利文獻1中，公開有根據來自激發光源的光輸出與預先存儲的基準激發光輸出之差來判定激發光源的劣化的方法。在該方法中，求出根據來自光放大器的光輸出計算出的光信號輸出與預先決定的光輸出目標值之間的輸出差，根據上述輸出差來增加激發光源的驅動電流以便來自光放大器的光輸出成為光輸出目標值。然而，在專利文獻1所記載的方法中，光輸出目標值恒定，所以無法應用于如光纖激光器那樣光輸出不恒定的動作(光輸出的強度被調制的情況)。

另外，在專利文獻2中，公開有在相對于激發光功率的變化量的光放大器的輸出光功率的變化量在規定的壽命基準值以下時判斷為光放大器已劣化的方法。然而，在該方法中，基于激發光功率的變化量和輸出光功率的變化量來判斷光放大器的劣化，所以在輸出光功率被控制為恒定的連續波振蕩(CW)動作時無法判斷劣化。

而且，在專利文獻3中，公開有通過拍攝單元來檢測從容易產生故障的熔接部在產生不良情況時漏出的激光的方法。然而，在該方法中，當配置拍攝單元時必須預先決定成為監視對象的容易故障或者劣化的位置，在存在多個這種位置的情況下，需要多個拍攝單元。另外，在該方法中，只能檢測與拍攝單元對應的確定的位置處的故障或者劣化。而且，在光纖激光器主體的周圍需要配置拍攝單元的空間，所以該方法對高密度安裝是不利的。

專利文獻1：日本特開2006－165298號公報

專利文獻2：日本特開2012－186333號公報

專利文獻3：日本特開2010－238709號公報

發明內容

本發明是基于這種以往技術的問題點而完成的，其目的在于提供一種在連續波振蕩動作時以及調制動作時中的任一動作時都能夠簡單地判定光放大裝置中的輸出光功率的降低的方法。

另外，本發明的目的在于提供一種在連續波振蕩動作時以及調制動作時中的任一動作時都能夠簡單地判定光放大裝置中的輸出光功率的降低的光放大系統。

根據本發明的第一方式，提供一種對使用來自激發光源的激發光來輸出高功率的光的光放大裝置中的輸出光功率的降低進行判定的方法。在該方法中，獲取在從上述光放大裝置輸出使用的最大的輸出光功率以上的規定的基準輸出光功率P_r時供給到上述激發光源的基準電流I_r，對在上述光放大裝置動作時供給到上述激發光源的電流I_i進行檢測。以規定的時間常數對上述檢測出的電流I_i進行時間平均來計算時間平均電流I_av。對在上述光放大裝置動作時從上述光放大裝置輸出的輸出光功率P_i進行檢測。以上述規定的時間常數對上述檢測出的輸出光功率P_i進行時間平均來計算時間平均輸出光功率P_av。根據上述時間平均電流I_av、上述基準輸出光功率P_r和上述基準電流I_r計算用P_ex＝I_av×P_r/I_r表示的輸出光功率期望值P_ex。將上述時間平均輸出光功率P_av和上述輸出光功率期望值P_ex進行比較，并基于該比較結果來判定上述光放大裝置的輸出光功率的降低。

也可以在將上述時間平均輸出光功率P_av和上述輸出光功率期望值P_ex進行比較，并基于該比較結果來判定上述光放大裝置的輸出光功率的降低時，計算上述輸出光功率期望值P_ex與上述時間平均輸出光功率P_av之差(P_ex－P_av)，在該差變得大于規定的閾值的情況下，判定為上述光放大裝置的輸出光功率降低。在該情況下，若將上述光放大裝置的連續波振蕩動作時的閾值電流設為I₁，則也可以將上述規定的閾值設定為I₁×P_r/I_r。