[發明專利]絕緣檢測裝置及絕緣檢測方法

有效

• 申請號: 201480017418.1
• 申請日: 2014-03-27
• 公開（公告）號: CN105102994B
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 笠井淳
• 申請（專利權）人: 日本電產理德股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H05K3/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 倪斌

技術領域

本發明涉及一種在被檢測基板上形成的配線圖形間進行絕緣檢測的絕緣檢測裝置及其相關技術。

背景技術

在具有多個配線圖形的基板(電路基板)中，通過判定從該多個配線圖形中依次選擇的一對配線圖形相互間的絕緣狀態的良好與否，來進行該基板是否為良品的絕緣檢測。

具體來講，針對一對配線圖形開始施加電壓后，基于在該電壓變穩定的所定時間一對配線圖形相互間的電壓以及在該所定時間一對配線圖形相互間流動的電流，算出該一對配線圖形相互間的電阻值，且基于該電阻值進行被檢測基板的良品判定。

在這種絕緣檢測中，向一對配線圖形相互間施加較高的電壓。鑒于此，存在著在一對配線圖形相互間(更詳細地來講，具有不充分絕緣狀態的部分)產生電火花的同時產生因該電火花而引起的不良之情況。

對此，存在一種能更準確地將產生這種電火花的基板區別為不良品的技術(參考專利文獻1)。

在專利文獻1記載的技術中，在開始向一對配線圖形施加電壓的時間起至該電壓變穩定的所定時間為止的期間，檢測出根據電壓施加而產生的一對配線圖形的電壓。且在該期間若檢測出檢測電壓的電壓降，則將檢測對象的基板判定為不良品。

但在如上所述絕緣檢測中，為了縮短該絕緣檢測所需的時間，優選地應盡可能縮短從開始向一對配線圖形施加電壓的時間起至該電壓變穩定的所定時間為止的期間。鑒于此，在該期間向一對配線圖形施加電壓時，使較大電流在一對配線圖形中流動。

但在進行專利文獻1記載的檢測時，若針對從多個配線圖形中提取的任意一對配線圖形也統一流過較大電流，則會存有不能適當地檢測電壓降，從而不能適當地檢測電火花產生的情況。

【現有技術文獻】

【專利文獻1】

日本專利公開第2003-172757號公報

發明內容

本發明的課題是提供一種能更好地檢測電火花的產生，進而更好地將產生電火花的基板區別為不良品的絕緣檢測技術。

根據一個實施形態的本發明，提供了一種絕緣檢測裝置，用于進行被檢測基板的絕緣檢測，所述絕緣檢測裝置包括：電源設備，向在所述被檢測基板上形成的多個配線圖形中作為絕緣檢測對象配線圖形而被選擇的上流側配線圖形和下流側配線圖形的兩配線圖形間，進行電壓施加；電流調整設備，調整所述電壓施加時來自所述電源設備的供給電流；電壓檢測設備，檢測根據所述電壓施加而產生的所述兩配線圖形間的電壓；電壓降檢測設備，在所述電壓施加的開始至所述兩配線圖形間的所述電壓變穩定的所定時間(timing)為止的期間，檢測在所述兩配線圖形間因產生的電火花而引起的電壓降的產生與否；判定設備，根據所述電壓降檢測設備若檢測所述電壓降，則將所述被檢測基板判定為不良品；記憶部，記憶在所述多個配線圖形的各個配線圖形上形成的檢測點的數量，所述電流調整設備根據在所述上流側配線圖形上形成的檢測點的數量即第一檢測點數量調整所述供給電流。

根據一個實施例，所述電流調整設備在所述第一檢測點數量大于所定數量時，將所述供給電流設定為第一電流值，在所述第一檢測點數量小于所述所定數量時，將所述供給電流設定為小于所述第一電流值的第二電流值。

根據一個實施例，所述電流調整設備將所述記憶設備所記憶的檢測點數量分類為所定數量的組，進而將與所述第一檢測點數量所屬的組對應的電流值作為所述供給電流而設定，根據與較少檢測點數量相對應的組而設定的電流值，小于根據與較多檢測點數量相對應的另一組而設定的電流值。

根據一個實施例，所述判定設備基于所述所定時間的所述兩配線圖形間的電壓以及所述所定時間的所述兩配線圖形間流動的電流，算出所述兩配線圖形間的電阻值，且進一步進行基于所述電阻值的所述被檢測基板的良好與否判定。

根據一個實施形態的本發明，提供了一種絕緣檢測方法，用于進行被檢測基板的絕緣檢測，所述絕緣檢測方法包括：步驟a，向在所述被檢測基板上形成的多個配線圖形中作為絕緣檢測對象配線圖形而被選擇的上流側配線圖形和下流側配線圖形的兩配線圖形間，開始電壓施加，步驟b，在所述電壓施加的開始至所述兩配線圖形間的電壓變穩定的所定時間為止的期間，檢測根據所述電壓施加而產生的所述兩配線圖形間的電壓，在所述期間，根據在所述上流側配線圖形上形成的檢測點的數量即第一檢測點數量，調整所述電壓施加時的供給電流，在所述期間，若檢測到在所述兩配線圖形間因產生的電火花而引起的電壓降，則將所述被檢測基板判定為不良品。

根據本發明，能更好地檢測因電火花而引起的電壓降，進而能更好地檢測電火花的產生。進一步能更好地檢測不良的被檢測基板。

附圖說明