[發明專利]絕緣檢測裝置及絕緣檢測方法

有效

• 申請號: 201480017418.1
• 申請日: 2014-03-27
• 公開（公告）號: CN105102994B
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 笠井淳
• 申請（專利權）人: 日本電產理德股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H05K3/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 倪斌

1.一種絕緣檢測裝置，用于進行被檢測基板的絕緣檢測，所述絕緣檢測裝置包括：

電源設備，向在所述被檢測基板上形成的多個配線圖形中作為絕緣檢測對象配線圖形而被選擇的上流側配線圖形和下流側配線圖形的兩配線圖形間，進行電壓施加，

電流調整設備，調整所述電壓施加時來自所述電源設備的供給電流，

電壓檢測設備，檢測根據所述電壓施加而產生的所述兩配線圖形間的電壓，

電壓降檢測設備，在所述電壓施加的開始至所述兩配線圖形間的所述電壓變穩定的所定時間(timing)為止的期間，檢測在所述兩配線圖形間因產生的電火花而引起的電壓降的產生與否，

判定設備，如果通過所述電壓降檢測設備檢測到所述電壓降，則將所述被檢測基板判定為不良品，

記憶部，記憶在所述多個配線圖形的各個配線圖形上形成的檢測點的數量，

所述電流調整設備根據在所述上流側配線圖形上形成的檢測點的數量即第一檢測點數量調整所述供給電流。

2.如權利要求1所述的絕緣檢測裝置，其特征在于所述電流調整設備在所述第一檢測點數量大于所定數量時，將所述供給電流設定為第一電流值，在所述第一檢測點數量小于所述所定數量時，將所述供給電流設定為小于所述第一電流值的第二電流值。

3.如權利要求1所述的絕緣檢測裝置，其特征在于所述電流調整設備將所述記憶部所記憶的檢測點數量分類為所定數量的組，進而將與所述第一檢測點數量所屬的組對應的電流值作為所述供給電流而設定，

根據與較少檢測點數量相對應的組而設定的電流值，小于根據與較多檢測點數量相對應的另一組而設定的電流值。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的絕緣檢測裝置，其特征在于所述判定設備基于所述所定時間的所述兩配線圖形間的電壓以及所述所定時間的所述兩配線圖形間流動的電流，算出所述兩配線圖形間的電阻值，且進一步進行基于所述電阻值的所述被檢測基板的良好與否判定。

5.一種絕緣檢測方法，用于進行被檢測基板的絕緣檢測，所述絕緣檢測方法包括：

步驟a，向在所述被檢測基板上形成的多個配線圖形中作為絕緣檢測對象配線圖形而被選擇的上流側配線圖形和下流側配線圖形的兩配線圖形間，開始電壓施加，以及

步驟b，在所述電壓施加的開始至所述兩配線圖形間的電壓變穩定的所定時間為止的期間，檢測根據所述電壓施加而產生的所述兩配線圖形間的電壓，

在所述期間，根據在所述上流側配線圖形上形成的檢測點的數量即第一檢測點數量，調整所述電壓施加時的供給電流，

在所述期間，若檢測到在所述兩配線圖形間因產生的電火花而引起的電壓降，則將所述被檢測基板判定為不良品。