[發(fā)明專利]復(fù)合基板、半導(dǎo)體裝置及半導(dǎo)體裝置的制法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201480009140.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105074868B | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 井出晃啟;高垣達(dá)朗;宮澤杉夫;堀裕二;多井知義;服部良祐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日本礙子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L21/683;H03H3/08;H03H9/145;H03H9/25 |
| 代理公司: | 上海市華誠(chéng)律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 李曉 |
| 地址: | 日本國(guó)愛知縣名*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 復(fù)合 半導(dǎo)體 裝置 制法 | ||
復(fù)合基板(10)由半導(dǎo)體基板(12)和絕緣性的支撐基板(14)粘合而成。支撐基板(14)為由相同絕緣材料制作的第1基板(14a)和第2基板(14b)以用刀片可剝離的強(qiáng)度接合而成,半導(dǎo)體基板(12)粘合在第1基板(14a)中與第2基板(14b)的接合面相反一側(cè)的表面上。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及復(fù)合基板、半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制法。
背景技術(shù)
作為用于實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體集成電路的高速工作和低耗電的方法之一,可以舉出使用以SOI技術(shù)為代表的復(fù)合基板的集成電路技術(shù)(例如參考專利文獻(xiàn)1)。這種復(fù)合基板由支撐基板和功能層(半導(dǎo)體層)構(gòu)成。通過在這種復(fù)合基板的半導(dǎo)體層上使用單晶基板能夠使其成為高品質(zhì)功能層。另一方面,在支撐基板上不只限于單晶,從降低成本的角度出發(fā),也有人提出使用多晶基板。作為這種復(fù)合基板的例子,可以舉出手機(jī)用高頻部件中使用的SOI(絕緣襯底上的硅;Si-on-Insulator)晶片或SOS(藍(lán)寶石硅;Si-on-Sapphire)晶片。這些高頻裝置,隨著最近對(duì)小型化的需求,裝置的低高度化變得特別重要。但是,我們發(fā)現(xiàn)當(dāng)使用這種復(fù)合基板時(shí),由于存在不同材料接合的結(jié)構(gòu),若削薄晶片的厚度,會(huì)產(chǎn)生卷曲,以致妨礙裝置的制作。因此近年來,在制成半導(dǎo)體層的全部功能后,采用背面研磨工序?qū)⒅位迥ハ髦疗谕暮穸取?/p>
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開平10-12547號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
然而,當(dāng)研磨如藍(lán)寶石類硬材料時(shí),磨石的磨損過大,該問題成為成本增加的主要原因。
本發(fā)明旨在解決這樣的問題,其主要目的在于在半導(dǎo)體裝置的制造過程中去除背面研磨工序。
本發(fā)明為了實(shí)現(xiàn)上述主要目的采用了以下的方法。
本發(fā)明的復(fù)合基板為,
由半導(dǎo)體基板和絕緣性支撐基板粘合而成的復(fù)合基板,
上述支撐基板為由相同絕緣材料制作的第1基板和第2基板以用刀片可剝離的強(qiáng)度接合而成,上述半導(dǎo)體基板粘合在上述第1基板中的上述第1基板與上述第2基板的接合面的相反一側(cè)的表面上。
本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置的制法包含:
(a)準(zhǔn)備上述復(fù)合基板的工序;
(b)在所述復(fù)合基板中的所述半導(dǎo)體基板上形成CMOS半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的工序;
(c)用刀片從上述第1基板上剝離除去上述第2基板的工序;
(d)將所述符合基板切成方塊獲得半導(dǎo)體裝置的工序。
本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置通過上述本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置的制法獲得。
本發(fā)明的復(fù)合基板為,以由相同絕緣材料制作的第1基板和第2基板以用刀片可剝離的強(qiáng)度接合而成的基板作為支撐基板。為此,與只使用第1基板作為支撐基板的情況相比,能夠使支撐基板增厚。因此,能夠減小隨溫度變化而產(chǎn)生的復(fù)合基板的卷曲,也能夠提高復(fù)合基板的強(qiáng)度。另外,在半導(dǎo)體基板上形成CMOS半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)之后,用刀片從第1基板上剝離除去第2基板就能夠簡(jiǎn)單地削薄支撐基板的厚度。為此,與利用背面研磨工序削薄厚的支撐基板的情況相比,成本較低。因此,能夠抑制半導(dǎo)體裝置制造成本的增加。由于除去的第2基板在制作本發(fā)明的復(fù)合基板時(shí)可以被再利用,從這個(gè)角度考慮也能夠節(jié)約成本。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





