[發(fā)明專利]薄膜沉積裝置與薄膜沉積方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201480002729.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104871293B | 公開(公告)日: | 2017-09-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃常洙;李愚嗔;申奇照;車東壹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | TES股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205 | 代理人: | 楊貝貝,臧建明 |
| 地址: | 韓國京畿道龍仁市處*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 沉積 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種薄膜沉積裝置,且更具體而言是一種可改善薄膜品質(zhì)、避免基板損害且藉由原子層沉積(Atomic Layer Deposition,ALD)增加產(chǎn)能(throughput)的薄膜沉積裝置。
背景技術(shù)
做為在基板如半導(dǎo)體晶圓(以下,稱為“基板”)上形成薄膜的沉積方法,已使用化學(xué)氣相沉積法(CVD;Chemical Vapor Deposition)、原子層沉積(ALD;Atomic Layer Deposition)等。
圖13示出自薄膜沉積方法中的原子層沉積的基本概念的示意圖。參照?qǐng)D13,將說明原子層沉積的基本概念于下。首先,供應(yīng)來源氣體(如三甲基鋁(TMA;TriMethyl Aluminium))至腔室中。來源氣體的來源材料吸附于基板上以在基板上形成吸附層。接著,供應(yīng)含有未活化氣體如氬氣(Ar)的沖洗氣體至腔室內(nèi)部。將未吸附于基板上的來源氣體的氣體成分與沖洗氣體由腔室排出。在此之后,供應(yīng)含有反應(yīng)物如臭氧(O3)的反應(yīng)氣體至腔室內(nèi)部。反應(yīng)氣體與吸附于基板上的來源材料反應(yīng)。然后,供應(yīng)沖洗氣體至腔室內(nèi)部,并將未與來源材料反應(yīng)的反應(yīng)氣體與沖洗氣體由腔室排出。藉由上述步驟,在基板上形成單一原子層(Al-O)的薄膜層。
根據(jù)注入方向與注入各種氣體(如來源氣體、反應(yīng)氣體、沖洗氣體與其他基板表面上的氣體)的方法,有各種用于原子層沉積的現(xiàn)有的薄膜沉積裝置。然而,現(xiàn)有的薄膜沉積裝置有如下問題:其無法同時(shí)滿足優(yōu)良的薄膜品質(zhì)與基板產(chǎn)能(throughput)。換句話說,在達(dá)到優(yōu)良的薄膜品質(zhì)的情況下,基板產(chǎn)能(throughput)則顯著地降低,而相反地,在基板產(chǎn)能改善的情況下,薄膜品質(zhì)則下降。
此外,如果使用氣體活化單元,如等離子體產(chǎn)生器,以改善基板產(chǎn)能,則活化的氣體將直接供應(yīng)至基板,而因此造成基板的損傷或在基板的邊緣區(qū)域上造成不必要的薄膜沉積。
發(fā)明內(nèi)容
欲解決的問題
因此,本發(fā)明致力于解決先前技術(shù)中所發(fā)生的上述問題,且本發(fā)明的目的是提供一種薄膜沉積裝置,其可顯著地改善基板產(chǎn)能(throughput)并增進(jìn)薄膜品質(zhì)。本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種薄膜沉積裝置,其可增加基板產(chǎn)能并減少現(xiàn)有的薄膜沉積裝置的占用面積(foot print)。此外,本發(fā)明的進(jìn)一步目的是提供一種薄膜沉積裝置,其可避免基板的損害,并且亦避免在活化氣體供應(yīng)時(shí)薄膜沉積在不必要的區(qū)域。
技術(shù)解決方案
為了完成上述日的,一種薄膜沉積裝置包括:腔室,具有預(yù)設(shè)的內(nèi)部空間;基板支撐部件,配置于腔室內(nèi)并且支撐基板;以及氣體供應(yīng)裝置,具有至少一個(gè)供應(yīng)通道及活化通道,供應(yīng)通道用以供應(yīng)處理氣體至基板,活化通道含氣體活化單元用以活化處理氣體,其中活化通道具有打開的下部與密封的上部。在薄膜沉積裝置中氣體供應(yīng)裝置與基板支撐部件中至少一個(gè)進(jìn)行相對(duì)于彼此的相對(duì)運(yùn)動(dòng)。
供應(yīng)通道包括:至少一個(gè)第一供應(yīng)通道,用以供應(yīng)來源氣體;以及至少一個(gè)第二供應(yīng)通道,用以供應(yīng)反應(yīng)氣體,且第二供應(yīng)通道相鄰于活化通道。
氣體供應(yīng)裝置進(jìn)一步包括:處理氣體引導(dǎo)部件,用以調(diào)整處理氣體的注入方向。供應(yīng)通道包括:至少一個(gè)第一供應(yīng)通道,用以供應(yīng)來源氣體;以及至少一個(gè)第二供應(yīng)通道,用以供應(yīng)反應(yīng)氣體。而且,處理氣體引導(dǎo)部件包括:至少一個(gè)來源氣體引導(dǎo)部件,用以調(diào)整來源氣體的注入方向;以及反應(yīng)氣體引導(dǎo)部件,用以調(diào)整反應(yīng)氣體的注入方向。
氣體供應(yīng)裝置進(jìn)一步包括:排氣通道,用以排出基板與氣體供應(yīng)裝置間的處理氣體。
氣體供應(yīng)裝置包括內(nèi)部排氣通道,對(duì)稱配置于第一供應(yīng)通道,用以排出殘余氣體。第二供應(yīng)通道對(duì)稱配置于第一供應(yīng)通道。
氣體供應(yīng)裝置進(jìn)一步包括:外部排氣通道,配置在活化通道的外側(cè)。
供應(yīng)通道包括:至少一個(gè)第一供應(yīng)通道用以供應(yīng)來源氣體;以及至少一個(gè)第二供應(yīng)通道用以供應(yīng)反應(yīng)氣體。并且,氣體供應(yīng)裝置包括:內(nèi)部排氣通道,配置在第一供應(yīng)通道的一側(cè),且內(nèi)部排氣通道配置在第一供應(yīng)通道與第二供應(yīng)通道之間。此時(shí),氣體供應(yīng)裝置不具有任何排出第一供應(yīng)通道的另一側(cè)與第二供應(yīng)通道之間的殘余氣體的排氣部件。
由供應(yīng)通道供應(yīng)的處理氣體通過開口部而導(dǎo)入至活化通道中,使處理氣體由氣體活化單元活化。由氣體活化單元活化的處理氣體通過活化通道而供應(yīng)至基板上,使基板與氣體供應(yīng)裝置間未活化的處理氣體活化。
氣體供應(yīng)裝置包括:外部排氣通道,配置于第二供應(yīng)通道的一側(cè)用以排出殘余氣體,且外部排氣通道對(duì)稱配置于第一供應(yīng)通道。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





