[實用新型]一種老化測試裝置有效
| 申請號： | 201420872896.8 | 申請日： | 2014-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN204330978U | 公開（公告）日： | 2015-05-13 |
| 發明（設計）人： | 陳全;邵懿;文俊;周廷興 | 申請（專利權）人： | 瀾起科技（上海）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所 31219 | 代理人： | 余明偉 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 老化 測試 裝置 | ||
1.一種老化測試裝置，其特征在于，所述老化測試裝置包括多路分配器，所述多路分配器的輸入端連接一個測試通道，所述多路分配器的輸出端連接所述老化測試裝置的老化板上的多個待測試芯片。
2.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器包括4路分配器、8路分配器、16路分配器、32路分配器、64路分配器中的任一種。
3.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器在100-125℃環境下工作正常。
4.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器的輸出端連接的老化板為一個老化板。
5.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述老化測試裝置包括一個或多個老化板。
6.根據權利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器的輸出端連接的老化板為位置相鄰的多個老化板。
7.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器的輸出端連接的多個待測試芯片位置相鄰。
8.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述待測試芯片使用的總線包括I2C總線或系統管理總線。
9.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器的輸入端和輸出端連接的是串行數據線。
10.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述待測試芯片包括集成電路芯片。
11.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：所述多路分配器通過地址信號選擇輸出端的待測試芯片。
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