[實用新型]液晶顯示模組測試裝置

有效

• 申請號: 201420716879.5
• 申請日: 2014-11-25
• 公開（公告）號: CN204215116U
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 劉詩平;李小磊
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 王春麗

1.一種液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述液晶顯示模組測試裝置包括：電源模塊、比較模塊以及控制模塊，其中，

所述電源模塊，與所述比較模塊電性連接，用于給所述比較模塊提供輸入電壓；

所述比較模塊，還與所述控制模塊及液晶顯示模組電性連接，用于將所述電源模塊提供的輸入電壓轉換為測試電壓后提供給所述液晶顯示模組，并將預設參考電壓與所述測試電壓進行比較，當所述預設參考電壓大于所述測試電壓時，產生一控制信號，并將產生的控制信號提供給所述控制模塊；

所述控制模塊，還與所述液晶顯示模組電性連接，用于接收所述比較模塊提供的控制信號，并根據所述控制信號控制所述液晶顯示模組，以使所述液晶顯示模組輸出提示信號。

2.根據權利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述電源模塊、比較模塊以及控制模塊集成在同一塊IC芯片上。

3.根據權利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述比較模塊包括電阻和比較器，所述電阻的一端電性連接所述電源模塊以接收所述輸入電壓，所述電阻的另一端分別電性連接所述比較器的負輸入端和所述液晶顯示模組，所述比較器的正輸入端接收所述預設參考電壓，所述比較器的輸出端電性連接所述控制模塊，當所述預設參考電壓大于提供給所述液晶顯示模組的測試電壓時，所述比較器的輸出端輸出高電平信號，當所述預設參考電壓小于等于提供給所述液晶顯示模組的測試電壓時，所述比較器的輸出端輸出低電平信號。

4.根據權利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述電阻的阻值介于1歐姆至50歐姆之間。

5.根據權利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述比較器的的正輸入端接收的預設參考電壓的取值設置為等于Vin-Rtest*Imax，其中，Vin是所述電源模塊提供給所述比較模塊的輸入電壓，Rtest是所述電阻的阻值，Imax是流經所述液晶顯示模組的閾值電流。

6.根據權利要求3所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，當所述比較器的輸出端輸出高電平信號時，所述比較器的輸出端將所述高電平信號提供給所述控制模塊，所述控制模塊根據所述高電平信號控制所述液晶顯示模組，使所述液晶顯示模組輸出“電流偏大”的提示信號。

7.根據權利要求6所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述提示信號為文字提示或語音提示。

8.根據權利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述控制模塊為現場可編程邏輯門陣列或單片機。

9.根據權利要求1所述的液晶顯示模組測試裝置，其特征在于，所述控制模塊，還用于輸出圖像信號給所述液晶顯示模組，以供所述液晶顯示模組進行圖像顯示。