[實(shí)用新型]相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420626210.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204142418U | 公開(公告)日: | 2015-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳俊華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京麥克思拓測控科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01L27/00 | 分類號(hào): | G01L27/00 |
| 代理公司: | 北京權(quán)泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11460 | 代理人: | 王道川 |
| 地址: | 100029 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 相對(duì) 真空 膨脹 體式 校準(zhǔn) 裝置 | ||
1.相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)裝置,其特征在于,包括箱體(100)和相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)系統(tǒng)(200),所述相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)系統(tǒng)(200)設(shè)在所述箱體(100)內(nèi);所述相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)系統(tǒng)(200)包括檢測管路、高真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)(203)、低真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)(204)、機(jī)械泵(201)和分子泵(202);所述檢測管路包括導(dǎo)氣管、電阻規(guī)G5(223)、電磁隔斷閥V10(213)、手動(dòng)隔斷閥V1(205)、微調(diào)閥V5(209)和電磁隔斷閥V9(212);所述電阻規(guī)G5(223)、所述電磁隔斷閥V10(213)、所述分子泵(202)、所述手動(dòng)隔斷閥V1(205)、所述微調(diào)閥V5(209)和所述電磁隔斷閥V9(212)通過導(dǎo)氣管依次連接;所述機(jī)械泵(201)依次經(jīng)過電磁放氣閥V12(215)和擋油阱(216)與位于所述電阻規(guī)G5(223)和所述電磁隔斷閥V9(212)之間的所述檢測管路導(dǎo)通連接,所述高真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)(203)與位于所述手動(dòng)隔斷閥V1(205)和所述微調(diào)閥V5(209)之間的所述檢測管路導(dǎo)通連接,所述低真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)(204)與位于所述微調(diào)閥V5(209)和所述電磁隔斷閥V9(212)之間的所述檢測管路導(dǎo)通連接,位于所述手動(dòng)隔斷閥V1(205)和所述微調(diào)閥V5(209)之間的所述檢測管路與位于所述微調(diào)閥V5(209)和所述電磁隔斷閥V9(212)之間的所述檢測管路經(jīng)過手動(dòng)隔斷閥V6(210)和膨脹閥V7(211)導(dǎo)通連接,位于所述微調(diào)閥V5(209)和所述電磁隔斷閥V9(212)之間的所述檢測管路微調(diào)閥V11(214)與氮?dú)獯鎯?chǔ)裝置(227)導(dǎo)通連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述高真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)(203)包括高真空室(217)、監(jiān)測高真空電離規(guī)G1(218)、標(biāo)準(zhǔn)電離真空規(guī)G2(219)和高真空校準(zhǔn)接入端(225),所述監(jiān)測高真空電離規(guī)G1(218)與所述高真空室(217)導(dǎo)通連接,所述標(biāo)準(zhǔn)電離真空規(guī)G2(219)與所述高真空室(217)導(dǎo)通連接,所述高真空室(217)通過手動(dòng)隔斷閥V2(206)與所述高真空校準(zhǔn)接入端(225)導(dǎo)通連接,所述高真空室(217)與位于所述手動(dòng)隔斷閥V1(205)和所述微調(diào)閥V5(209)之間的所述檢測管路導(dǎo)通連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相對(duì)法高真空、相對(duì)法低真空及膨脹法一體式校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述低真空校準(zhǔn)分系統(tǒng)包括低真空室(224)、1000Torr標(biāo)準(zhǔn)薄膜規(guī)G3(220)、1Torr標(biāo)準(zhǔn)薄膜規(guī)G4(222)和低真空校準(zhǔn)接入端(226),所述1000Torr標(biāo)準(zhǔn)薄膜規(guī)G3(220)與所述低真空室(224)導(dǎo)通連接,所述1Torr標(biāo)準(zhǔn)薄膜規(guī)G4(222)經(jīng)過手動(dòng)隔斷閥V8(221)與所述低真空室(224)導(dǎo)通連接,所述低真空室(224)通過手動(dòng)隔斷閥V4(208)與所述低真空校準(zhǔn)接入端(226)導(dǎo)通連接,所述低真空室(224)與位于所述電磁隔斷閥V9(212)和所述微調(diào)閥V5(209)之間的所述檢測管路導(dǎo)通連接,所述低真空室(224)通過手動(dòng)隔斷閥V3(207)與所述高真空校準(zhǔn)接入端(225)導(dǎo)通連接。
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