[實(shí)用新型]適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420607291.6
• 申請日: 2014-10-20
• 公開（公告）號: CN204101065U
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 田凱
• 申請（專利權(quán)）人: 北京長城華冠汽車科技有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 北京市維詩律師事務(wù)所 11393
• 代理人: 楊安進(jìn)

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及到一種標(biāo)準(zhǔn)支撐架，特別是涉及一種可適用于光學(xué)測量設(shè)備，用于提高測量精度優(yōu)化測量效率的標(biāo)準(zhǔn)支撐架。

背景技術(shù)

請參閱1A、圖1B及圖1C所示，是現(xiàn)有的適合光學(xué)測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)支撐架立體示意圖、平面示意圖及圖1B的A部局部放大示意圖。

一般的光學(xué)測量設(shè)備并不附帶標(biāo)準(zhǔn)支撐架，需要作為額外附件進(jìn)行選配。現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)支撐架，主要包括矩形的固定架本體20及對稱設(shè)置的六個(gè)頂桿21，頂桿21用螺栓(圖中未示出)固定。使用時(shí)，將被測物體30置于固定架本體20內(nèi)側(cè)，六個(gè)頂桿21頂住被測物體30的六個(gè)固定點(diǎn)，然后將標(biāo)準(zhǔn)支撐架置于光學(xué)測量設(shè)備中，對被測物體30進(jìn)行測量。

現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)支撐架，由于采用了矩形固定架本體20，被測物體30為不規(guī)則形狀時(shí)，局部的頂桿21與被測物體30的接觸為點(diǎn)接觸，頂桿21切向受力，固定效果不好，測量零件時(shí)的通用性不好，使用不方便。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的缺陷，本申請的目的在于，提供一種適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，能夠使其造價(jià)更加低廉，并且最大程度的解決其通用性不好的問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，依據(jù)本實(shí)用新型提出的一種適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其包括：固定架本體，外輪廓為圓形，設(shè)置有多個(gè)穿孔及與該穿孔相交的螺紋孔；支撐柱，穿設(shè)于該穿孔中；以及緊固螺栓，通過該螺紋孔固定該支撐柱。

本實(shí)用新型還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述的穿孔的個(gè)數(shù)為三至八個(gè)，所述的支撐柱的個(gè)數(shù)為三至八個(gè)。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述的穿孔的個(gè)數(shù)為八個(gè)，所述的支撐柱的個(gè)數(shù)為三至八個(gè)。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述的多個(gè)穿孔均勻?qū)ΨQ的設(shè)置于該固定架本體。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述的支撐柱為圓柱形桿。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述的每個(gè)穿孔設(shè)置有上下對應(yīng)的螺紋孔。

前述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，其中所述螺紋孔為沉頭螺紋孔，其中所述的緊固螺栓為內(nèi)六角螺栓。

本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。借由上述技術(shù)方案,本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，至少具有下列優(yōu)點(diǎn)：

一、本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，造價(jià)低廉，通用性好。

二、本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架，多角度夾持被測物，提高了被測物的穩(wěn)定性，提高了測量效率。

附圖說明

圖1A是現(xiàn)有的適合光學(xué)測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)支撐架立體示意圖。

圖1B是現(xiàn)有的適合光學(xué)測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)支撐架平面示意圖。

圖1C是圖1B中A部的局部放大示意圖。

圖2是本實(shí)用新型適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架較佳實(shí)施例的立體示意圖。

圖3是本實(shí)用新型適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架的平面示意圖。

圖4是圖3中B-B’向的剖面示意圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效,以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本實(shí)用新型提出的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架其具體實(shí)施方式、步驟、結(jié)構(gòu)、特征及其功效詳細(xì)說明。

請參閱圖2、圖3及圖4所示，分別是本實(shí)用新型適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型標(biāo)準(zhǔn)支撐架較佳實(shí)施例的立體示意圖、平面示意圖及圖3中B-B’向的剖面示意圖。

本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的適合光學(xué)測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)支撐架，包括固定架本體1、穿設(shè)于固定架本體1的多個(gè)支撐柱5及用于固定該支撐柱5的緊固螺栓3。

上述的固定架本體1外輪廓為圓形，該固定架本體1的截面為多邊形(見圖4)，固定架本體1由鋁合金板料進(jìn)行銑削加工。該固定架本體1上設(shè)置有多個(gè)穿孔11，該穿孔11指向固定架本體1的圓心。該固定架本體1還設(shè)置有與該穿孔垂直的螺紋孔13。該固定架本體1，至少包括三個(gè)穿孔11，其他實(shí)施例中，可以包括四個(gè)、五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)或八個(gè)支撐柱11。本實(shí)施例中，固定架本體1上均勻?qū)ΨQ設(shè)置有八個(gè)穿孔11。該螺紋孔13為沉頭螺紋孔，對稱設(shè)置于該穿孔11的兩側(cè)。

該支撐柱5為圓柱形桿，穿設(shè)于該固定架本體1的穿孔內(nèi)。該緊固螺栓2通過該螺紋孔13固定該支撐柱5。標(biāo)準(zhǔn)支撐架，至少包括三個(gè)支撐柱5，其他實(shí)施例中，可以包括四個(gè)、五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)或八個(gè)支撐柱5。