[實用新型]適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420607291.6
• 申請日: 2014-10-20
• 公開（公告）號: CN204101065U
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 田凱
• 申請（專利權(quán)）人: 北京長城華冠汽車科技有限公司
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 北京市維詩律師事務(wù)所 11393
• 代理人: 楊安進

1.一種適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其包括：

固定架本體，外輪廓為圓形，設(shè)置有多個穿孔及與該穿孔相交的螺紋孔；

支撐柱，穿設(shè)于該穿孔中；以及

緊固螺栓，通過該螺紋孔固定該支撐柱。

2.如權(quán)利要求1所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的穿孔的個數(shù)為三至八個，所述的支撐柱的個數(shù)為三至八個。

3.如權(quán)利要求1所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的穿孔的個數(shù)為八個，所述的支撐柱的個數(shù)為三至八個。

4.如權(quán)利要求1所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的多個穿孔均勻?qū)ΨQ的設(shè)置于該固定架本體。

5.如權(quán)利要求1所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的支撐柱為圓柱形桿。

6.如權(quán)利要求1所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的每個穿孔設(shè)置有上下對應(yīng)的螺紋孔。

7.如權(quán)利要求1至6中任一權(quán)利要求所述的適合光學測量設(shè)備的改進型標準支撐架，其特征在于其中所述的螺紋孔為沉頭螺紋孔，所述的緊固螺栓為內(nèi)六角螺栓。