[實用新型]一種光分路器用芯片角度檢測裝置

有效

• 申請號: 201420596046.X
• 申請日: 2014-10-15
• 公開（公告）號: CN204359285U
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發明（設計）人: 樊利平
• 申請（專利權）人: 樊利平
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 北京方圓嘉禾知識產權代理有限公司 11385
• 代理人: 董芙蓉

技術領域

本實用新型專利涉及一種光分路器用芯片角度檢測裝置，尤其是能識別角度準確精確度。適用于石英材質材料角度檢測。

背景技術

目前，光分路器的使用越來越廣。芯片加工要求角度要達到98度，角度達不到要求就無法精確地與光纖陣列，單根進行對接，芯片為石英材質，常規的石英基材角度測量儀器都依賴于進口設備。價格高，測試誤差較大，而本檢測設備完全自主設計，設備簡單，制造成本低廉，精確度高，便于操作等優點。

實用新型內容

為了滿足光分路器用芯片在研磨后的角度測試準確，所設計的一種簡便紅光測檢測器，傳統的測試儀器目前全部依賴進口，價格高，設備維護費用大，不便于大規模的推廣，此測試儀器結構簡單，檢測精度高，檢測方便。

本實用新型涉及一種光分路器用芯片角度檢測裝置，所述裝置包括光源、反射區標、產品測試臺；

光源和反射區標位于產品測試臺的同一側，光源采用紅光源，反射區標采用白色，芯片放置于產品測試臺上面，紅光光源照射到芯片斜面上，斜面將紅光反射到反射區標，通過標準件確定合格品的反射區域，根據所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。

附圖說明

通過參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例，本實用新型的以上和其它方面及優點將變得更加易于清楚，在附圖中：

圖1是本實用新型的整體結構圖。

圖2是本實用新型的原理圖。

具體實施方式

在下文中，現在將參照附圖更充分地描述本實用新型，在附圖中示出了各種實施例。然而，本實用新型可以以許多不同的形式來實施，且不應該解釋為局限于在此闡述的實施例。相反，提供這些實施例使得本公開將是徹底和完全的，并將本實用新型的范圍充分地傳達給本領域技術人員。

在下文中，將參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例。

參考附圖1-2，光源和反射區標位于產品測試臺的同一側，為了便于檢測人?員觀察，光源采用紅光源，反射區標采用白色，芯片放置于產品測試臺上面，通過紅光光源照射到芯片斜面上，石英材質對光反射性較強，斜度面將紅光反射到反射區標，通過標準件確定合格品的反射區域，根據所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。

以上所述僅為本實用新型的實施例而已，并不用于限制本實用新型。本實用新型可以有各種合適的更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。