[實(shí)用新型]一種光分路器用芯片角度檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420596046.X | 申請(qǐng)日： | 2014-10-15 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN204359285U | 公開（公告）日： | 2015-05-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 樊利平 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 樊利平 |
| 主分類號(hào)： | G01B11/26 | 分類號(hào)： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京方圓嘉禾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11385 | 代理人： | 董芙蓉 |
| 地址： | 332000 江西*** | 國(guó)省代碼： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 分路 器用 芯片 角度 檢測(cè) 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種光分路器用芯片角度檢測(cè)裝置，其特征在于：
所述裝置包括光源、反射區(qū)標(biāo)、產(chǎn)品測(cè)試臺(tái)；
光源和反射區(qū)標(biāo)位于產(chǎn)品測(cè)試臺(tái)的同一側(cè)，光源采用紅光源，反射區(qū)標(biāo)采用白色，芯片放置于產(chǎn)品測(cè)試臺(tái)上面，紅光光源照射到芯片斜面上，斜面將紅光反射到反射區(qū)標(biāo)，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)件確定合格品的反射區(qū)域，根據(jù)所測(cè)試芯片的反射點(diǎn)以此判斷是否符合要求的角度。
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