[實用新型]芯片

有效

• 申請號: 201420587779.7
• 申請日: 2014-10-11
• 公開（公告）號: CN204142916U
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發明（設計）人: 李長征
• 申請（專利權）人: 上海華力創通半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/3181
• 分類號: G01R31/3181
• 代理公司: 上海唯源專利代理有限公司 31229
• 代理人: 曾耀先

技術領域

本實用新型涉及芯片處理器領域，尤指一種芯片。

背景技術

芯片總是按照設計時的功能和技術參數來設計的，設計制造出來的芯片，總要測試其性能是否達到設計時的技術參數，比如電流、電壓、阻值、時序，周期等測試向量。但芯片這類數字電路測試起來卻非常困難，因芯片中包括有成千上萬個邏輯門組成的邏輯電路，以往簡單的功能測試已經不能滿足芯片的測試需要，現有的芯片測試方法，如圖1所示，對芯片搭建外圍電路，將外圍板產生的測試向量電信號通過芯片的管腳輸入芯片，達到測試芯片的目的，但這樣的做法存在如下缺陷：

一、需要外圍板生成測試向量電信號，外圍板增加開發任務，加長芯片開發時間；

二、測試向量電信號通過芯片管腳速度受到很大的限制，導致測試向量電信號輸入待測芯片的時間大大超出芯片內部信號速度十倍以上數量級；

三、有外圍板的存在，且還需要設置向量存儲單元向外圍板灌輸測試向量，使得其無法實現測試環境小型化。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種芯片，解決現有芯片測試方法中存在的加長開發時間、管腳速度限制造成的測試向量電信號輸入時間過長、以及無法實現測試環境小型化的問題。

實現上述目的的技術方案是：

本實用新型一種芯片，包括

芯片邏輯電路；

固化存儲電路，存儲有固化測試向量，所述固化測試向量匹配于所述芯片邏輯電路；

以供將所述固化測試向量傳送至所述芯片邏輯電路進行測試的切換邏輯電路，所述切換邏輯電路連接所述芯片邏輯電路和所述固化存儲電路。

采用在芯片邏輯電路上一起集成固化存儲電路和切換邏輯電路，節省了傳統測試方法中的外圍板，節省了向量存儲單元，節約成本，縮短測試時間，而且可以使得測試環境小型化。將固化存儲電路和切換邏輯電路與芯片邏輯電路集成于芯片中，實現直接傳送測試向量電信號至芯片邏輯電路中進行芯片測試，傳送速度遠高于傳統方法中通過芯片管腳進入芯片邏輯電路。

本實用新型芯片的進一步改進在于，還包括連接于所述切換邏輯電路和所述固化存儲電路之間的芯片跳線管腳，通過所述芯片跳線管腳控制所述固化存儲電路與所述切換邏輯電路之間的通斷。

本實用新型芯片的進一步改進在于，所述芯片還包括設于所述芯片外圍的跳線控制電路，所述跳線控制電路控制連接所述芯片跳線管腳。

本實用新型芯片的進一步改進在于，所述跳線控制電路設有高電平端子和低電平端子，所述芯片跳線管腳通過一切換開關連接所述高電平端子和所述低電平端子。

本實用新型芯片的進一步改進在于，所述切換開關控制所述芯片跳線管腳連接所述高電平端子，所述述切換邏輯電路和所述固化存儲電路之間導通連接，所述切換開關控制所述芯片跳線管腳連接所述低電平端子，所述切換邏輯電路和所述固化存儲電路之間斷開連接。

附圖說明

圖1為現有技術中芯片的測試方法的結構示意圖；

圖2為本實用新型芯片的內部電路結構示意圖；

圖3為本實用新型芯片中切換邏輯電路的電路圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步說明。

參閱圖2，顯示了本實用新型芯片的內部電路結構示意圖。本實用新型芯片設置有固化存儲電路、切換邏輯電路以及芯片邏輯電路，相比現有的芯片電路結構中增加了固化存儲電路和切換邏輯電路結構，通過固化存儲電路存儲適配于芯片邏輯電路的測試向量，再由切換邏輯電路讀取測試向量，進而將測試向量傳送至芯片邏輯電路，對芯片邏輯電路進行測試。采用增加固化存儲電路和切換邏輯電路對芯片邏輯電路進行測試，可以減少現有的外圍板的開發，節約芯片開發時間，在芯片上設置跳線，控制測試向量的傳輸，無需設計復雜的向量生成外圍板；測試向量電信號在芯片電路的內部存儲并傳送，傳送速度高于通過芯片管腳傳送時的十倍以上；在芯片的外圍僅設有跳線，無需設置外圍板，極大壓縮外圍板的體積，可以充分利用測試空間。下面結合附圖對本實用新型芯片進行說明。

參閱圖2，顯示了本實用新型芯片的內部電路結構示意圖，下面結合圖2，對本實用新型芯片進行說明。