[實(shí)用新型]芯片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420587779.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204142916U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李長(zhǎng)征 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華力創(chuàng)通半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/3181 | 分類號(hào): | G01R31/3181 |
| 代理公司: | 上海唯源專利代理有限公司 31229 | 代理人: | 曾耀先 |
| 地址: | 201713 上海市青浦區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 | ||
1.一種芯片,其特征在于,包括:?
芯片邏輯電路;?
固化存儲(chǔ)電路,存儲(chǔ)有固化測(cè)試向量,所述固化測(cè)試向量匹配于所述芯片邏輯電路;?
以供將所述固化測(cè)試向量傳送至所述芯片邏輯電路進(jìn)行測(cè)試的切換邏輯電路,所述切換邏輯電路連接所述芯片邏輯電路和所述固化存儲(chǔ)電路;以及?
連接于所述切換邏輯電路和所述固化存儲(chǔ)電路之間的芯片跳線管腳,通過(guò)所述芯片跳線管腳控制所述固化存儲(chǔ)電路與所述切換邏輯電路之間的通斷。?
2.如權(quán)利要求1所述的芯片,其特征在于,所述芯片還包括設(shè)于所述芯片外圍的跳線控制電路,所述跳線控制電路控制連接所述芯片跳線管腳。?
3.如權(quán)利要求2所述的芯片,其特征在于,所述跳線控制電路設(shè)有高電平端子和低電平端子,所述芯片跳線管腳通過(guò)一切換開(kāi)關(guān)連接所述高電平端子和所述低電平端子。?
4.如權(quán)利要求3所述的芯片,其特征在于,所述切換開(kāi)關(guān)控制所述芯片跳線管腳連接所述高電平端子,所述切換邏輯電路和所述固化存儲(chǔ)電路之間導(dǎo)通連接;所述切換開(kāi)關(guān)控制所述芯片跳線管腳連接所述低電平端子,所述切換邏輯電路和所述固化存儲(chǔ)電路之間斷開(kāi)連接。?
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





