[實用新型]一種元器件測試裝置中的探針組、元器件測試裝置

有效

• 申請號: 201420548497.6
• 申請日: 2014-09-22
• 公開（公告）號: CN204214905U
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 吉明陽;陳建業
• 申請（專利權）人: 深圳市奇泓福科技有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 江婷;李發兵

技術領域

本實用新型涉及元器件測試領域，尤其涉及一種元器件測試裝置中的探針組、元器件測試裝置。

背景技術

元器件測量裝置用于對元器件的參數進行測量，一般用于元器件測試分選機中。元器件測試分選機在對元器件進行測量后，會將符合要求的元器件放置在一處，將不符合要求的元器件放置在另一處，從而實現對元器件的分選。現有的元器件測試裝置通常采用測刀對元器件進行測試，在測試過程中，元器件傳動到測刀位置，從測刀下通過，上下測刀頂到元器件上下兩端對元器件進行測量。采用測刀對元器件的測量存在的缺陷是：易損傷元器件，測量精度易受到影響。

實用新型內容

本實用新型要解決的主要技術問題是，提供一種元器件測試裝置中的探針組、元器件測試裝置，解決現有技術中，采用測刀對元器件進行測量會損傷元器件，影響測量精度的問題。

為解決上述技術問題，本實用新型提供一種原器件測試裝置中的探針組，包括上探針組和下探針組，上探針組包括上探針；下探針組包括下探針底座、下探針和壓緊機構，壓緊機構固定在下探針底座上；下探針通過壓緊機構固定在下探針底座上。

在本實施例中，下探針底座上設置有至少一對相對的側邊；壓緊機構包括第一彈簧和壓塊，第一彈簧設置在壓塊與下探針底座的第一側邊之間；下探針放置在壓塊和下探針底座上的與第一側邊相對的第二側邊之間；當下探針放置在壓塊和第二側邊之間后，第一彈簧處于壓縮狀態，處于壓縮狀態的第一彈簧向壓塊施加壓力，使壓塊向下探針施加壓力，從而將下探針固定在壓塊與第二側邊之間。

在本實施例中，在第二側邊上朝向壓塊方向還設置有導電塊，下探針放置在導電塊與壓塊之間；導電塊上還設置有與外部導線進行連接的導電接口。

在本實施例中，下探針底座上還設置有彈簧狀態調節機構，用于調節第一彈簧的伸縮狀態。

在本實施例中，彈簧狀態調節機構為凸輪軸，凸輪軸設置在壓塊與第二側邊之間；當轉動凸輪軸時，凸輪軸上的凸輪轉動，當凸輪上直徑較大的一端向壓塊方向轉動時，凸輪與壓塊接觸，且給壓塊向第一側邊方向移動的力，從而使第二側邊與壓塊之間的距離增大；當凸輪上直徑較小的一端向壓塊方向轉動時，第一彈簧擴張，給予壓塊朝向第二側邊方向的壓力，迫使壓塊朝向第二側邊方向移動，從而壓緊下探針。

在本實施例中，在下探針的下表面與下探針底座之間還設置有第二彈簧，第二彈簧的一端與下探針底座接觸，另一端與下探針的下表面接觸。

在本實施例中，上探針組為彈滑式探針組；或所述上探針組中還包括帶動機構，所述帶動機構帶動所述上探針上、下移動。

在本實施例中，上探針包括兩個相互絕緣的子上探針。

本實用新型還提供了一種元器件測試裝置，包括上述的元器件測試裝置中的探針組；上探針組、下探針組以上探針、下探針相對的方式固定在元器件測試裝置上；在測試元器件的參數時，元器件放置在上探針與下探針之間，且元器件的兩個電極分別與上探針和下探針接觸。

在本實施例中，元器件測試裝置包括真空盤和測試盤，測試盤上設置有多個放置元器件的容置孔，真空盤上設置有用于放置下探針的孔，下探針的上部放置在真空盤的孔內，且下探針的上表面低于真空盤的上表面；在測試元器件的參數時，測試盤的孔的位置與下探針的位置相對應，元器件放置在容置孔內。

本實用新型的有益效果是：

本實用新型提供了一種元器件測試裝置中的探針組、元器件測試裝置，該元器件測試裝置中的探針組包括上探針組和下探針組，上探針組包括上探針；下探針組包括下探針底座、下探針和壓緊機構，壓緊機構固定在下探針底座上；下探針通過壓緊機構固定在下探針底座上。本實用新型中的探針組中對元器件進行測量的探測頭為探針，不會對元器件造成損傷，保證了測量精度。而且下探針通過壓緊機構固定在下探針底座上，方便對下探針的調整及更換。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例一提供的一種元器件測試裝置中的探針組的配合圖；

圖2為本實用新型實施例一提供的另一種元器件測試裝置中的探針組的配合圖；

圖3為本實用新型實施例二提供的一種元器件測試裝置中的探針組的下探針組的結構示意圖；

圖4為本實用新型實施例三提供的一種元器件測試裝置的結構示意圖。

具體實施方式

下面通過具體實施方式結合附圖對本實用新型作進一步詳細說明。

實施例一：