[實用新型]一種元器件測試裝置中的探針組、元器件測試裝置

有效

• 申請號: 201420548497.6
• 申請日: 2014-09-22
• 公開（公告）號: CN204214905U
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 吉明陽;陳建業
• 申請（專利權）人: 深圳市奇泓福科技有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 江婷;李發兵

1.一種元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，包括上探針組和下探針組，所述上探針組包括上探針；所述下探針組包括下探針底座、下探針和壓緊機構，所述壓緊機構固定在所述下探針底座上；所述下探針通過所述壓緊機構固定在所述下探針底座上。

2.如權利要求1所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，所述下探針底座上設置有至少一對相對的側邊；所述壓緊機構包括第一彈簧和壓塊，所述第一彈簧設置在所述壓塊與所述下探針底座的第一側邊之間；所述下探針放置在所述壓塊和所述下探針底座上的與所述第一側邊相對的第二側邊之間；當所述下探針放置在所述壓塊和所述第二側邊之間后，所述第一彈簧處于壓縮狀態，所述處于壓縮狀態的第一彈簧向所述壓塊施加壓力，使所述壓塊向所述下探針施加壓力，從而將所述下探針固定在所述壓塊與所述第二側邊之間。

3.如權利要求2所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，在所述第二側邊上朝向所述壓塊方向還設置有導電塊，所述下探針放置在所述導電塊與所述壓塊之間；所述導電塊上還設置有與外部導線進行連接的導電接口。

4.如權利要求2所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，所述下探針底座上還設置有彈簧狀態調節機構，用于調節所述第一彈簧的伸縮狀態。

5.如權利要求4所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，所述彈簧狀態調節機構為凸輪軸，所述凸輪軸設置在所述壓塊與所述第二側邊之間；當轉動所述凸輪軸時，所述凸輪軸上的凸輪轉動，當所述凸輪上直徑較大的一端向所述壓塊方向轉動時，所述凸輪與所述壓塊接觸，且給所述壓塊向所述第一側邊方向移動的力，從而使所述第二側邊與所述壓塊之間的距離增大；當所述凸輪上直徑較小的一端向所述壓塊方向轉動時，第一彈簧擴張，給予壓塊朝向第二側邊方向的壓力，迫使壓塊朝向第二側邊方向移動，從而壓緊下探針。

6.如權利要求2所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，在所述下探針的下表面與所述下探針底座之間還設置有第二彈簧，所述第二彈簧的一端與所述下探針底座接觸，另一端與所述下探針的下表面接觸。

7.如權利要求1-6任一項所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，所述上探針組為彈滑式探針組；

或所述上探針組中還包括帶動機構，所述帶動機構帶動所述上探針上、下移動。

8.如權利要求1-6任一項所述的元器件測試裝置中的探針組，其特征在于，所述上探針包括兩個相互絕緣的子上探針。

9.一種元器件測試裝置，其特征在于，包括如權利要求1-8任一項所述的元器件測試裝置中的探針組；所述上探針組、下探針組以上探針、下探針相對的方式固定在所述元器件測試裝置上；在測試所述元器件的參數時，元器件放置在所述上探針與所述下探針之間，且所述元器件的兩個電極分別與所述上探針和所述下探針接觸。

10.如權利要求9所述的元器件測試裝置，其特征在于，所述元器件測試裝置包括真空盤和測試盤，所述測試盤上設置有多個放置元器件的容置孔，所述真空盤上設置有用于放置所述下探針的孔，所述下探針的上部放置在所述真空盤的孔內，且所述下探針的上表面低于所述真空盤的上表面；在測試所述元器件的參數時，所述測試盤的孔的位置與所述下探針的位置相對應，所述元器件放置在所述容置孔內。