[實用新型]實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統

有效

• 申請號: 201420512473.5
• 申請日: 2014-09-05
• 公開（公告）號: CN204066680U
• 公開（公告）日: 2014-12-31
• 發明（設計）人: 彭騫;鄒峰;雷程程;陳凱;沈亞非
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子技術股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍;劉琳

技術領域

本實用新型屬于液晶模組的顯示領域和測試技術領域，具體地指一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統。

背景技術

具有MIPI接口的顯示屏廣泛應用于現代的智能手機、平板等電子設備。在MIPI顯示模組大規模的生產過程中，MIPI模組出廠前的配置測試是很重要的一個環節，需要使用到讀取和設置MIPI模組內部寄存器的技術，來完成點屏測試、Vcom調節、MTP燒錄等生產流程。橋接芯片在VIDEO模式或COMMAND模式下通過內部的轉換機制將輸入的信號發送至VIDEO模式或COMMAND模式的MIPI模組顯示。VIDEO模式是指主機傳輸到液晶模組采用實時像素流，而且是以高速傳輸信號的模式，而COMMAND模式是指采用發送命令和數據到具有顯示緩存的控制器的傳輸信號的模式。

現階段MIPI模組測試系統僅適用于VIDEO模式的MIPI模組，對橋接芯片進行配置的方案是采用SPI通道和RGB數據通道兩個獨立通道分別傳輸參數配置數據和圖像數據，然而，橋接芯片工作于COMMAND模式時，其用于傳送配置參數的SPI接口處于關閉狀態，因此目前的MIPI模組測試系統不能進行COMMAND模式MIPI模組的點屏測試。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本實用新型提出了能夠完成COMMAND模式MIPI模組的點屏測試，并能夠進行Vcom調節、模組ID設置、MTP信息燒錄等功能的實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統。

為實現上述目的，本實用新型所設計的實現COMMAND模式的MIPI模組測試方法的測試系統，其特殊之處在于，包括PG圖像發生器、MCU和FPGA，所述PG圖像發生器分別與MCU和FPGA連接，所述MCU與FPGA通過EBI接口連接，所述FPGA通過橋接芯片與MIPI模組連接，所述PG圖像發生器用于設置寄存器配置參數和圖像數據；所述MCU用于將從PG圖像發生器接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送至FPGA；所述FPGA用于將從PG圖像發生器接收的圖像數據與DCS指令打包后發送至橋接芯片。

進一步地，所述FPGA包括EBI模塊、數據處理模塊和時序接口電路，所述EBI模塊將從MCU接收的DCS指令發送至時序接口電路，所述數據處理模塊將從PG圖像發生器接收的圖像數據發送至時序接口電路，所述時序接口電路將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片。

本實用新型的工作原理為：PG圖像發生器發出的圖像信號經過FPGA解碼生成橋接芯片能夠讀取的圖像數據，MCU從上層軟件獲取MIPI模組的內部寄存器配置信息，并將配置信息轉化為DCS指令后，FPGA將DCS指令與圖像數據打包后以轉發的方式傳送至橋接芯片，最終由橋接芯片的MIPI?D0通道完成配置參數的傳輸。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果包括：

(1)能夠實現COMMAND模式MIPI模組的點屏測試；

(2)本系統通過FPGA生成圖像數據，MCU通過FPGA轉發MIPI模組的寄存器配置參數，可以實現寄存器配置參數和圖像數據在同一個通道進行發送，提高傳輸效率；

(3)能夠對設置的參數進行記錄，可以很方便地查詢到每個模組設置的參數；

(4)多功能性：除了基本的點屏測試功能，本技術方案提供了Vcom調節、模組ID讀取和保存、MTP數據編輯和燒錄等多種測試功能，適應了MIPI生產過程中的多種需求。

(5)通過提供數據比對功能，有效保障了燒錄參數數據的準確性。

附圖說明

圖1為本實用新型實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統的結構示意圖。

圖中：1.PG圖像發生器，2.MCU，3.FPGA，3-1.EBI模塊，3-2.數據轉換模塊，3-3.時序接口電路，4.橋接芯片，5.MIPI模組。

具體實施方式

以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細描述。

如圖1所示，本實用新型一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，包括PG圖像發生器1、MCU2和FPGA3，PG圖像發生器1分別與MCU2和FPGA3連接，MCU2與FPGA3通過EBI接口連接，FPGA3通過橋接芯片4與MIPI模組5連接，

PG圖像發生器1用于設置寄存器配置參數和圖像數據；

MCU2用于將從PG圖像發生器1接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送至FPGA3；