[實用新型]實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統

有效

• 申請號: 201420512473.5
• 申請日: 2014-09-05
• 公開（公告）號: CN204066680U
• 公開（公告）日: 2014-12-31
• 發明（設計）人: 彭騫;鄒峰;雷程程;陳凱;沈亞非
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子技術股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍;劉琳

1.一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，其特征在于：包括PG圖像發生器(1)、MCU(2)和FPGA(3)，所述PG圖像發生器(1)分別與MCU(2)和FPGA(3)連接，所述MCU(2)與FPGA(3)通過EBI接口連接，所述FPGA(3)通過橋接芯片(4)與MIPI模組(5)連接，

所述PG圖像發生器(1)用于設置寄存器配置參數和圖像數據；

所述MCU(2)用于將從PG圖像發生器(1)接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送至FPGA(3)；

所述FPGA(3)用于將從PG圖像發生器(1)接收的圖像數據與DCS指令打包后發送至橋接芯片(4)。

2.根據權利要求1所述的實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，其特征在于：所述FPGA(3)包括EBI模塊(3-1)、數據處理模塊(3-2)和時序接口電路(3-3)，所述EBI模塊(3-1)將從MCU(2)接收的DCS指令發送至時序接口電路(3-2)，所述數據處理模塊(3-2)將從PG圖像發生器(1)接收的圖像數據發送至時序接口電路(3-3)，所述時序接口電路(3-3)將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片(4)。