[實用新型]芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201420498136.5
• 申請日: 2014-08-29
• 公開（公告）號: CN204101684U
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發明（設計）人: 陳任佳;田景均
• 申請（專利權）人: 深圳市嘉合勁威電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04;G01R1/067
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 謝志為

技術領域

本實用新型涉及一種芯片測試裝置。

背景技術

測試內存芯片(業界也稱內存顆粒)時,通常會先將內存芯片焊接于內存電路板后，再將該內存電路板插入主機板的插槽內進行測試。測試結束后，需熔解焊錫才能將內存芯片從內存電路板拆下來，十分不方便。

實用新型內容

鑒于以上內容，有必要提供一種使用方便的芯片測試裝置。

一種芯片測試裝置，用于測試芯片，該芯片測試裝置包括一基座、一電路板、一夾持件、若干導電件及至少一定位板，該基座包括一支撐件及樞轉連接于該支撐件的若干蓋板，該電路板設置在該支撐件上且焊盤區朝上，該夾持件設置在該電路板上，該夾持件的頂部設有至少一定位槽，該定位槽內貫穿開設若干分別正對電路板的焊盤區的卡固孔，這些導電件分別收容于這些卡固孔內，該定位板收容于定位槽內且開設有若干收容芯片的收容口，每一導電件的兩端分別用于電連接芯片的引腳及電路板對應的焊盤區，這些蓋板能扣合于該夾持件，每一蓋板設有若干正對相應的收容口用于朝向電路板抵頂芯片的壓塊。

優選地，該夾持件設有若干定位銷，該定位板設若干收容這些定位銷的定位孔，每一定位銷由能被磁鐵吸附的物質制成，每一定位孔的上部設有一用于吸附該定位銷的磁鐵塊。

優選地，該支撐件的頂面開設一收容該電路板的收容槽，該電路板的兩端分別設有一卡固口，該支撐件于該收容槽的兩端分別設有一卡固于對應的卡固口內的定位片。

優選地，該支撐件上設有若干定位柱，該夾持件開設若干用于收容這些定位柱的通孔。

優選地，該電路板的一側于頂面及底面分別設有若干能插接于一測試主板的一插槽內的金手指，該電路板的兩端于鄰近該金手指處分別開設一定位口，該插槽的兩端分別設有一可拆卸地卡固于對應的定位口內的卡扣。

優選地，該支撐件還設有若干可拆卸地固定于該支撐件一側的連接塊，這些蓋板分別轉動地連接于這些連接塊，每一蓋板與對應的連接塊之間設有一迫使該蓋板遠離該支撐件旋轉的彈性件。

優選地，該夾持件設有若干卡接部，每一蓋板設有一可拆卸地卡固于對應的卡接部的卡扣。

優選地，每一導電件包括一收容于對應的卡固孔內的安裝塊及若干設于該安裝塊的探針，每一探針包括一接觸芯片的引腳的第一探針頭、一接觸電路板的焊盤的第二探針頭及設置在第一探針頭與第二探針頭之間的彈性件。

優選地，每一安裝塊開設若干安裝孔，每一探針的第一探針頭收容于對應的安裝孔的上部，該探針的第二探針頭收容于該安裝孔的下部，每一探針的第一探針頭的下部設有一第一套筒，該探針的第二探針的上部設有一第二套筒，該彈性件收容于第二套筒內，且第二套筒滑動地套設于第一套筒內。

優選地，該定位板于每一收容口的頂面四周設有傾斜的倒角。

相較現有技術，本實用新型芯片測試裝置將電路板夾持于夾持件和支撐件之間及將定位板夾持于蓋板與夾持件之間，定位板設有收容芯片的收容口，每一導電件電性連接對應的芯片的引腳與電路板對應的焊盤，可方便地進行芯片測試。

附圖說明

下面參照附圖結合具體實施方式對本實用新型作進一步的描述。

圖1為本實用新型芯片測試裝置的較佳實施方式的立體分解圖，該芯片測試裝置包括兩定位件。

圖2為圖1的反方向視圖。

圖3為圖1的其中一定位件的立體分解圖。

圖4-5為本實用新型芯片測試裝置的組裝圖。

圖6為圖5中沿VI-VI線的剖視圖。

圖7為圖6中VII部分的放大圖。

圖8為本實用新型芯片測試裝置的使用狀態圖。

主要元件符號說明

芯片測試裝置?100

基座?20

支撐件?21

支撐板?211

延伸板?213

定位柱?215

收容槽?216

定位片?217

螺孔?218

卡孔?219

翻蓋機構?23

連接塊?231

蓋板?233

彈性件?235

壓塊?237

卡扣?236

電路板?30

插接部?31

焊盤區?33

焊盤?331

卡固口?35

定位口?36

夾持件?50

夾持片?51

定位銷?53

定位槽?512

連接區?513