[實用新型]一種PCB電氣性能測試治具有效
| 申請號: | 201420378407.3 | 申請日: | 2014-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN204086330U | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發明(設計)人: | 夏述文 | 申請(專利權)人: | 競華電子(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 陳健 |
| 地址: | 518104 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 pcb 電氣 性能 測試 | ||
1.一種PCB電氣性能測試治具,包括位于頂部的一塊主導層,疊置于底部的兩塊主導層、若干沿豎直方向設置于所述頂底與底部的主導層之間的導向層、至少兩根穿設于所述主導層與導向層中的探針、以及穿設過所述主導層與導向層的支撐桿,其特征在于,所述導向層的數量為九塊。
2.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,所述導向層的厚度相同。
3.如權利要求2所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,每一導向層的厚度為1.0mm。
4.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,相鄰導向層之間的最大間距為9.7mm。
5.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,相鄰探針之間的最小間距為5mil。
6.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,所述探針的直徑最小為8mil。
7.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,相鄰的導向層之間夾置有墊圈,所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
8.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,位于下方的主導層與相鄰的導向層之間夾置有墊圈,所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
9.如權利要求1、7或8所述的PCB電氣性能測試治具,其特征在于,位于上方的主導層疊置于相鄰的導向層上。
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