[實用新型]一種PCB電氣性能測試治具

有效

• 申請號: 201420377859.X
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN204086307U
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 夏述文
• 申請（專利權）人: 競華電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 陳健

技術領域

本實用新型屬于PCB技術領域，尤其涉及一種PCB電氣性能測試治具。

背景技術

PCB的電氣性能測試，需要使用測試機及相應的治具來實現，現有的PCB電氣性能測試工藝中使用的測試治具，包括上下間隔設置的面板，面板間用墊圈相隔，面板上開設有若干通孔以供探針穿過。請參見圖1及圖2，現有的墊圈2＇與面板間無固定接口，在測試過程中，治具的面板容易發生移動，將治具上的探針帶偏，造成誤測。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題在于提供一種PCB電氣性能測試治具，旨在解決現有技術中的治具因面板容易發生移動，而造成誤測的問題。

本實用新型是這樣實現的，一種PCB電氣性能測試治具，包括若干上下間隔設置的面板、位于相鄰兩面板之間的墊圈、穿設于所述面板及墊圈內的支撐桿、以及穿設于所述面板間的探針；相鄰墊圈之間具有相互配合凸凹結構，每一面板上對應所述凸凹結構的位置處設有安裝孔，所述凸結構穿設于相鄰面板的安裝孔中。

進一步地，所述墊圈包括第一墊圈及第二墊圈，所述第二墊圈位于最下方的兩面板之間，所述第一墊圈疊置于所述第二墊圈的上方。

進一步地，所述第一墊圈的頂部設置有凸結構或凹結構，相應地，其底部對應所述凸結構或凹結構的位置處設置有凹結構或凸結構，所述凸結構穿過相鄰面板的安裝孔中，并與相鄰第一墊圈的凹結構相配合。

進一步地，所述第一墊圈的頂部設置有至少兩個凸結構或凹結構，相應地，其底部設置有至少兩個凹結構或凸結構，所述的凸結構及凹結構沿所述第一墊圈的圓周均勻分布。

進一步地，所述第二墊圈的頂部對應所述第一墊圈底部的凹結構或凸結構的位置處設置有凸結構或凹結構，其底部設置有凸結構，所述第二墊圈底部的凸結構穿入相鄰面板的安裝孔內，其頂部的凸結構或凹結構與相鄰第一墊圈底部的凹結構或凸結構相配合。

進一步地，所述第二墊圈的頂部設置有至少兩個凸結構或凹結構，所述第二墊圈的底部設置有至少兩個凸結構，所述的凸結構或凹結構沿所述第二墊圈的圓周均勻分布。

進一步地，所述相互配合的凸凹結構是凸臺與凹槽。

本實用新型與現有技術相比，有益效果在于：本實用新型測試治具的每一墊圈上設有與相鄰墊圈相互配合凸凹結構，每一面板上對應凸凹結構的位置處設有安裝孔，墊圈上的凸結構穿設于相鄰面板的安裝孔中，通過墊圈上的凸凹結構的配合，可實現相鄰兩層面板的穩固連接，有效地防止治具在測試PCB過程中發生移動，從而避免誤測的發生。

附圖說明

圖1是現有技術中的一種PCB電氣性能測試治具的墊圈的主視示意圖。

圖2是圖1的俯視示意圖。

圖3是本實用新型實施例提供的一種PCB電氣性能測試治具的縱向剖視示意圖。

圖4是圖3中第一墊圈的主視示意圖。

圖5是圖4的俯視示意圖。

圖6是圖3中第二墊圈的主視示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

如圖3至圖6所示，為本實用新型的一較佳實施例，一種PCB電氣性能測試治具100，包括若干上下間隔設置的面板1、位于相鄰兩面板1之間的墊圈2、穿設于面板1及墊圈2內的支撐桿3、以及穿設于面板1間的探針4；相鄰墊圈2之間具有相互配合凸結構211及凹結構212，每一面板1上對應凸結構211及凹結構212的位置處設有安裝孔11，凸結構211穿設于相鄰面板1的安裝孔11中。于本實施例中，相互配合的凸結構211、凹結構212分別是凸臺、凹槽。

具體地，上述墊圈2包括第一墊圈21及第二墊圈22，第二墊圈22位于最下方的兩面板1之間，第一墊圈21疊置于第二墊圈22的上方。

第一墊圈21的頂部設置有凸結構211或凹結構212，相應地，其底部對應凸結構211或凹結構212的位置處設置有凹結構212或凸結構211，凸結構211穿過相鄰面板1的安裝孔11中，并與相鄰第一墊圈21的凹結構212相配合。具體地，第一墊圈21的頂部設置有至少兩個凸結構211或凹結構212，相應地，其底部設置有至少兩個凹結構212或凸結構211，凸結構211及凹結構212沿第一墊圈21的圓周均勻分布。于本實施例中，第一墊圈21的頂部設置有兩個凸結構211，相應地，其底部設置有兩個凹結構212。