[實用新型]一種PCB電氣性能測試治具有效
| 申請號： | 201420377859.X | 申請日： | 2014-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN204086307U | 公開（公告）日： | 2015-01-07 |
| 發明（設計）人： | 夏述文 | 申請（專利權）人： | 競華電子（深圳）有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 陳健 |
| 地址： | 518104 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 pcb 電氣 性能 測試 | ||
1.一種PCB電氣性能測試治具，包括若干上下間隔設置的面板、位于相鄰兩面板之間的墊圈、穿設于所述面板及墊圈內的支撐桿、以及穿設于所述面板間的探針；其特征在于，相鄰墊圈之間具有相互配合凸凹結構，每一面板上對應所述凸凹結構的位置處設有安裝孔，所述凸結構穿設于相鄰面板的安裝孔中。
2.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征于，所述墊圈包括第一墊圈及第二墊圈，所述第二墊圈位于最下方的兩面板之間，所述第一墊圈疊置于所述第二墊圈的上方。
3.如權利要求2所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述第一墊圈的頂部設置有凸結構或凹結構，相應地，其底部對應所述凸結構或凹結構的位置處設置有凹結構或凸結構，所述凸結構穿過相鄰面板的安裝孔中，并與相鄰第一墊圈的凹結構相配合。
4.如權利要求3所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述第一墊圈的頂部設置有至少兩個凸結構或凹結構，相應地，其底部設置有至少兩個凹結構或凸結構，所述的凸結構及凹結構沿所述第一墊圈的圓周均勻分布。
5.如權利要求2所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述第二墊圈的頂部對應所述第一墊圈底部的凹結構或凸結構的位置處設置有凸結構或凹結構，其底部設置有凸結構，所述第二墊圈底部的凸結構穿入相鄰面板的安裝孔內，其頂部的凸結構或凹結構與相鄰第一墊圈底部的凹結構或凸結構相配合。
6.如權利要求5所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述第二墊圈的頂部設置有至少兩個凸結構或凹結構，所述第二墊圈的底部設置有至少兩個凸結構，所述的凸結構或凹結構沿所述第二墊圈的圓周均勻分布。
7.如權利要求1至6中任意一項所述PCB電氣性能測試治具，其特征在在于，所述相互配合的凸凹結構是凸臺與凹槽。
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