[實用新型]一種PCB電氣性能測試治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420377815.7
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN204086306U
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 夏述文;陳代樹
• 申請（專利權(quán)）人: 競?cè)A電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02
• 代理公司: 深圳市恒申知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312
• 代理人: 陳健

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于PCB生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種PCB電氣性能測試治具。

背景技術(shù)

PCB電氣測試治具主要用于給探針導(dǎo)向及固定，圖1所示為一種現(xiàn)有的PCB電氣測試治具100＇，該治具100＇的頂部及底部分別設(shè)置有一主導(dǎo)層1＇，兩主導(dǎo)層1＇之間設(shè)置有五塊導(dǎo)向?qū)?＇，兩塊導(dǎo)向?qū)?＇之間的最大間距為19.1mm，治具上探針3＇最小的直徑為12mil，探針3＇間最小間距為3.5mil，在市場上，測試探針3＇的長度是固定的95.25mm，因此，治具的整體高度是一個定值。在測試過程中探針3＇的一端抵持PCB，另一端抵持測試機(jī)臺，故探針3＇的兩端均受力，因相鄰兩導(dǎo)向?qū)?＇的間距過大，相鄰的兩根探針3＇的中間部位容易彎曲并相互接觸，導(dǎo)致測試治具內(nèi)部短路，造成誤測。

實用新型內(nèi)容

本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種PCB電氣性能測試治具，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的治具因兩塊導(dǎo)向?qū)娱g的間距過大，從而導(dǎo)致治具內(nèi)部短路，造成誤測的問題。

本實用新型是這樣實現(xiàn)的，一種PCB電氣性能測試治具，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層、若干沿豎直方向設(shè)置于所述的兩塊主導(dǎo)層之間的導(dǎo)向?qū)印⒅辽賰筛┰O(shè)于所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)又械奶结槨⒁约按┰O(shè)過所述主導(dǎo)層與導(dǎo)向?qū)拥闹螚U，所述導(dǎo)向?qū)拥臄?shù)量為八塊。

進(jìn)一步地，所述導(dǎo)向?qū)拥暮穸认嗤?/p>

進(jìn)一步地，每一導(dǎo)向?qū)拥暮穸葹?.0mm。

進(jìn)一步地，相鄰導(dǎo)向?qū)又g的最大間距為10.37mm。

進(jìn)一步地，相鄰探針之間的最小間距為5mil。

進(jìn)一步地，所述探針的直徑最小為10mil。

進(jìn)一步地，相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。

進(jìn)一步地，位于下方的主導(dǎo)層與相鄰的導(dǎo)向?qū)又g夾置有墊圈，所述支撐桿穿設(shè)于所述墊圈中。

進(jìn)一步地，位于上方的主導(dǎo)層疊置于相鄰的導(dǎo)向?qū)由稀?/p>

本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于：本實用新型在保證治具整體高度不變的前提下，通過在主導(dǎo)層間增加導(dǎo)向?qū)樱瓜噜弮蓪?dǎo)向?qū)娱g的間隔變小，在測試過程中探針不會發(fā)生彎曲，從而相鄰的兩探針不會因接觸而導(dǎo)致治具內(nèi)部短路，防止了誤測的發(fā)生。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的PCB電氣性能測試治具的縱向剖視示意圖。

圖2是本實用新型實施例提供的PCB電氣性能測試治具的縱向剖視示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

如圖2所示，為本實用新型的一較佳實施例，一種PCB電氣性能測試治具100，包括兩塊間隔設(shè)置的主導(dǎo)層1、若干沿豎直方向設(shè)置于兩塊主導(dǎo)層1之間的導(dǎo)向?qū)?、至少兩根穿設(shè)于主導(dǎo)層1與導(dǎo)向?qū)?中的探針3、以及穿設(shè)過主導(dǎo)層1與導(dǎo)向?qū)?的支撐桿4，導(dǎo)向?qū)?的數(shù)量為八塊。

具體地，相鄰的導(dǎo)向?qū)?之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設(shè)于墊圈5中。位于下方的主導(dǎo)層1與相鄰的導(dǎo)向?qū)?之間夾置有墊圈5，支撐桿4穿設(shè)于墊圈5中。位于上方的主導(dǎo)層1疊置于相鄰的導(dǎo)向?qū)?上。

每一導(dǎo)向?qū)?的厚度相同，因?qū)驅(qū)?的厚度過厚時無法插針，導(dǎo)向?qū)?過薄時探針3在測試過程中容易上下擺動，造成導(dǎo)向?qū)?上的孔磨損變大，影響測試良率，因此導(dǎo)向?qū)?厚度優(yōu)選為1.0mm。

于本實施例中，治具100的兩個導(dǎo)向?qū)?之間的最大的間距縮小為10.37mm，治具100上的探針3最小的直徑為10mil，探針3間最小間距為5mil，將兩個導(dǎo)向?qū)?之間的間距縮小，使探針3中間彎曲度變小，并且縮小了探針3直徑，增大兩根探針3之間的間距，在測試過程中，探針3兩端受力，中間彎曲度變小，同時，增大了相鄰兩根探針3之間的間距，使相鄰的兩根探針3不會因接觸而導(dǎo)致治具100內(nèi)部短路，防止了誤測的發(fā)生。

以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。