[實用新型]一種PCB電氣性能測試治具有效
| 申請號： | 201420377815.7 | 申請日： | 2014-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN204086306U | 公開（公告）日： | 2015-01-07 |
| 發明（設計）人： | 夏述文;陳代樹 | 申請（專利權）人： | 競華電子（深圳）有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 陳健 |
| 地址： | 518104 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 pcb 電氣 性能 測試 | ||
【權利要求書】：
1.一種PCB電氣性能測試治具，包括兩塊間隔設置的主導層、若干沿豎直方向設置于所述的兩塊主導層之間的導向層、至少兩根穿設于所述主導層與導向層中的探針、以及穿設過所述主導層與導向層的支撐桿，其特征在于，所述導向層的數量為八塊。
2.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述導向層的厚度相同。
3.如權利要求2所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，每一導向層的厚度為1.0mm。
4.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰導向層之間的最大間距為10.37mm。
5.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰探針之間的最小間距為5mil。
6.如權利要求1至3中任意一項所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，所述探針的直徑最小為10mil。
7.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
8.如權利要求1所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，位于下方的主導層與相鄰的導向層之間夾置有墊圈，所述支撐桿穿設于所述墊圈中。
9.如權利要求1、7或8所述的PCB電氣性能測試治具，其特征在于，位于上方的主導層疊置于相鄰的導向層上。
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