[實(shí)用新型]一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201420356287.7
• 申請(qǐng)日: 2014-06-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN204154762U
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-02-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 喬治·柯瑞爾思;麥克·菲利皮;史帝文·亞奇;麥克·尚·卡薩帝;奇瑞·吉添卓;恩甘·杜;肯特·恩古言;尤里·皮科史凱;尼爾·萊特
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 烽騰科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067
• 代理公司: 北京匯智英財(cái)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11301
• 代理人: 潘光興

1.一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針系統(tǒng)包括：?

a.存儲(chǔ)架；?

b.探針桿門架總成；?

c.支架，附著至所述探針桿門架；?

d.探針總成，可附裝至所述支架，并用以與所述受試裝置進(jìn)行電性配合；以及?

e.機(jī)械手系統(tǒng)，用以從所述存儲(chǔ)架拾取所述探針總成并將所述探針總成遞送至附裝至所述探針桿門架的所述支架，所述機(jī)械手系統(tǒng)還用以從附裝至所述探針桿門架總成的所述支架拾取所述探針總成并將所述探針總成遞送至所述存儲(chǔ)架。?

2.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述機(jī)械手還用以將所述探針總成及所述支架沿所述探針桿門架總成的長(zhǎng)度進(jìn)行重新定位，以實(shí)現(xiàn)所述探針總成與所述受試裝置的對(duì)應(yīng)配合部分的對(duì)齊。?

3.如權(quán)利要求2所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括摩擦減低裝置，用以有利于所述將所述探針總成及所述支架沿所述探針桿門架總成的長(zhǎng)度進(jìn)行重新定位的步驟。?

4.如權(quán)利要求2所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括空氣軸承，用以有利于所述將所述探針總成及所述支架沿所述探針桿門架總成的長(zhǎng)度進(jìn)行重新定位的步驟。?

5.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成包括安裝銷，用于將所述探針總成附裝至所述支架。?

6.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成包括多個(gè)接觸銷，在所述探針總成附裝至所述支架時(shí)，所述多個(gè)接觸銷用以與所述受試裝置上的多個(gè)導(dǎo)電焊盤(pán)進(jìn)行配合。?

7.如權(quán)利要求6所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成的所述接觸銷是根據(jù)所述受試裝置的構(gòu)造進(jìn)行預(yù)先定位。?

8.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成包括第二電性連接器，且其中所述支架包括第一電性連接器，在所述探針總成附裝至所述支架時(shí)，所述第一電性連接器與所述第二電性連接器進(jìn)行配合。?

9.如權(quán)利要求8所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括柔性纜線，用于將至少一個(gè)測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)遞送至所述支架的所述第一電性連接器。?

10.如權(quán)利要求9所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括纜線引導(dǎo)構(gòu)件，在所述支架安裝于所述探針桿門架總成上時(shí)，所述纜線引導(dǎo)構(gòu)件用于確保所述柔性纜線被正確地定位。?

11.如權(quán)利要求9所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括測(cè)試模式產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生所述至少一個(gè)測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)，其中所述測(cè)試模式產(chǎn)生器電性連接至所述柔性纜線。?

12.如權(quán)利要求8所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，還包括柔性印刷電路板，用于將至少一個(gè)測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)遞送至所述支架的所述第一電性連接器。?

13.如權(quán)利要求9或12所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成包括多個(gè)接觸銷，在所述探針總成附裝至所述支架時(shí)，所述多個(gè)接觸銷用以與所述受試裝置上的導(dǎo)電焊盤(pán)進(jìn)行配合，且其中所述多個(gè)接觸銷電性連接至所述探針總成的所述第二電性連接器的多個(gè)觸點(diǎn)。?

14.如權(quán)利要求13所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成用以從所述第二電性連接器接收所述至少一個(gè)測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并將所接收的所述至少一個(gè)測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)經(jīng)由所述多個(gè)接觸銷施加至所述受試裝置。?

15.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針總成包括安裝銷，用于以垂直預(yù)加載荷將所述探針總成附裝至所述支架，所述垂直預(yù)加載荷足以在最大探測(cè)力下固持被附裝至所述支架的所述探針總成。?

16.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述探針桿門架總成用以提供自動(dòng)化運(yùn)動(dòng)軸線，以將所述探針總成定位于所述受試裝置上的特定位置。?

17.如權(quán)利要求1所述的一種用于檢驗(yàn)受試裝置的探針系統(tǒng)，其特征在于，所述機(jī)械手系統(tǒng)包括抓持總成，所述抓持總成可操作以抓住所述探針總成。?