[實用新型]一種以二氧化碲為基底的中短波紅外增透膜有效
| 申請號: | 201420310973.0 | 申請日: | 2014-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN203965648U | 公開(公告)日: | 2014-11-26 |
| 發明(設計)人: | 羅海瀚;劉定權;蔡清元;李耀鵬 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | G02B1/11 | 分類號: | G02B1/11 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氧化 基底 中短波 紅外 增透膜 | ||
技術領域
本專利涉及一種中短波紅外增透膜,,具體指一種以二氧化碲為基底的中短波紅外增透膜。
背景技術
增透膜又稱減反膜,在光學元件中,由于元件表面的反射作用而使光能損失,為了減少元件表面的反射損耗,常在光學元件表面沉積透明介質薄膜,使得元件達到減反增透的效果。最初的增透膜是通過在元件表面沉積單層增透薄膜材料實現的,這只能對單一特定波長的電磁波增透。為了在更大范圍內和更多波長實現增透,可以利用沉積多層膜來實現。隨著對增透膜的研究經驗,發現了更多的可以作為增透膜的材料,同時由于鍍膜技術的發展,增透膜的應用廣泛涉及工業、農業、科研等多個行業。
二氧化碲單晶是一種無色透明的壓電晶體,具有光學、聲學及壓電的多種性能及特征。在激光出現后,聲光偏轉、調制技術的發展很大程度取決于聲光材料的性能。二氧化碲晶體既有低聲速又有高折射率,是一種優質的聲光晶體。
折射率較大的聲光晶體必然伴隨著較大的反射損耗,在晶體的光通道兩面沉積增透膜,減小反射損耗,提高探測器的響應顯得尤為重要。二氧化碲晶體在0.5~4.0μm波長范圍內幾乎無衰減的透過,適合寬光譜的聲光調控。
發明內容
本專利提出了一種以二氧化碲為基底的中短波紅外增透膜,可以使用在聲光調制設備中較少反射損耗,增強信號強度,提高探測器響應。
本發明的技術方案是:在雙面拋光的二氧化碲聲光晶體的通光面的兩個表面分別交替沉積ZnS膜層和YbF3膜層。
本專利的增透膜由正面膜系1、基片2和背面膜系3組成,在基底的一面沉積正面膜系1,在基底的另一面沉積反面膜系3。
正面膜系1的膜系結構為:
基底/0.314H0.025L1.961H0.078L0.496H0.257L0.258H0.894L/空氣
背面膜系3的膜系結構為:
基底/0.28H0.022L1.638H0.076L0.396H0.227L0.204H0.743L/空氣
其中,其中,H表示一個λ0/4光學厚度的ZnS膜層,L表示一個λ0/4光學厚度的YbF3膜層,λ0為中心波長,H與L前的數字為膜層的厚度比例系數。
由于本專利增透膜的增透波段范圍較寬,故采用8層膜系結構,使得在1.25~4.0μm的范圍內都得到良好的增透效果。
本專利由于增透光譜區域內包含水汽吸收區,為了降低影響,薄膜沉積擬采用離子束輔助沉積方式,選擇適當的陽極電壓和陰極電流,可以有效地降低水汽吸收影響。
本專利優點在于:提出了二氧化碲基底的一種中短波紅外增透膜,增透區域光譜范圍為1.25~4.0μm,平均透過率大于95%,可以很好的應用于聲光調制設備中,增強信號強度,提高探測器響應。
附圖說明
圖1為二氧化碲基底的一種中短波紅外增透膜正面及背面膜系排列的剖面結構示意圖。圖中(1)為正面膜系,(2)為二氧化碲基片,(3)為背面膜系。
圖2為二氧化碲晶體的光譜透過率曲線。
圖3為二氧化碲基底的一種中短波紅外增透膜的光譜透過率曲線。
具體實施方式
下面結合附圖對本專利的具體實施方式進一步詳細說明。
本專利增透膜光譜增透范圍為1.25~4.0μm。選用在所需光譜范圍內合適的光學薄膜材料,以ZnS為高折射率材料,YbF3為低折射率材料。
本專利增透膜膜系為多層膜非規整膜系結構。膜系沉積采用石英晶體監控為主,光學直接監控為輔的監控方式,控制膜層厚度沉積誤差,得到接近設計的結果。選取中心波長為2.5μm,膜系結構通過膜系設計軟件優化,得到正面膜系1的膜系結構為:
基底/0.314H0.025L1.961H0.078L0.496H0.257L0.258H0.894L/空氣
背面膜系3的膜系結構為:
基底/0.28H0.022L1.638H0.076L0.396H0.227L0.204H0.743L/空氣
其中,H表示一個λ0/4光學厚度的ZnS膜層,L表示一個λ0/4光學厚度的YbF3膜層。中心波長λ0為2.5μm。H與L前的數字為膜層的厚度比例系數。
為減小2.7~3.0μm的水汽吸收,薄膜沉積采用離子源輔助轟擊,選擇陽極電壓為190伏特,陰極電流為4安培,基片沉積溫度控制在180±2℃、以及合適的蒸發速率等工藝控制可有效地降低水汽吸收的影響。
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