[實用新型]高溫反偏試驗設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420239087.3 | 申請日: | 2014-05-09 |
| 公開(公告)號: | CN203929991U | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陸軍;馬永利;李秀青 | 申請(專利權)人: | 南通華隆微電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高溫 試驗 設備 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種高溫反偏試驗設備,尤其涉及一種可以分析產(chǎn)品性能的試驗設備。
背景技術
現(xiàn)有的用于測試二極管、三極管的高溫反偏試驗裝置由高溫烘箱、偏置板、反偏電源、及其控制系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)等部分組成,該裝置包括電源、主控制系統(tǒng)、輔助控制系統(tǒng)、計算機、顯示器、接插件、偏置板、恒溫室,集中一起,設備體積龐大,價格昂貴,對于安裝場所要求進門大小和高度有特殊要求,所以該裝置使用條件受到很大限制。
但是由于高溫反偏性能是評估半導體產(chǎn)品可靠性的重要試驗設備,且產(chǎn)品在具體使用之前,不知道其能在承受設定溫度和電流下工作下多長時間,這給產(chǎn)品的使用帶來很大不便。
所以市場上急需一種高溫反偏試驗設備,其可以分析產(chǎn)品性能,提高產(chǎn)品可靠性。
實用新型內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術存在的缺陷,本實用新型的目的在于提供一種高溫反偏試驗設備,其體積小、便于試驗使用,可以分析產(chǎn)品性能,提高產(chǎn)品可靠性。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型的技術方案是:
一種高溫反偏試驗設備,包括一設備主體,所述設備主體的上端面上設置有復數(shù)通孔,每個所述通孔內(nèi)設有一試驗基座,所述試驗基座上設置有三個供三極管/二極管的引腳插入用的插入孔,所述復數(shù)個試驗基座均與電線電性連接,并與所述設備主體固定連接。
作為本實用新型的優(yōu)選方案之一,所述插入孔的兩側均設置有支撐塊。
作為本實用新型的優(yōu)選方案之一,所述試驗基座包括一凸出部及一固定片,所述凸出部通過通孔凸出設備主體的上端面,所述固定部設置于設備主體上端面的下方,并與設備主體用螺絲固定連接。
作為本實用新型的優(yōu)選方案之一,所述設備主體為一長方體,為中空結構。
與現(xiàn)有技術相比,本實用新型的有益效果是:
本實用新型結構簡單,成本低,體積小,可以方便快捷的得知三極管/二極管在承受設定溫度、設定電流下的最長工作時間,便于試驗使用,可以分析產(chǎn)品性能,提高產(chǎn)品可靠性。
附圖說明
為了更清楚地說明本實用新型的結構特征和技術要點,下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進行詳細說明。
圖1是本實用新型實施例公開的高溫反偏試驗設備的結構示意圖;
圖2是本實用新型實施例公開的試驗基座的結構示意圖。
附圖標記說明:1-設備主體,2-通孔,3-試驗基座,31-凸出部,31a-插入孔,31a-支撐塊,33-螺絲。
具體實施方式
下面將結合本實施例中的附圖,對實施例中的技術方案進行具體、清楚、完整地描述。
參見圖1所示,為本實施例的高溫反偏試驗設備,它包括一設備主體1,所述設備主體1為一長方體,為中空結構。
所述設備主體1的上端面上設置有復數(shù)通孔2,每個所述通孔2內(nèi)設有一試驗基座3,所述試驗基座3均與電線電性連接,并與所述設備主體1通過螺絲33固定連接。
所述試驗基座3包括一凸出部31及一固定部(圖中未顯示),所述凸出部31通過通孔2凸出設備主體1的上端面,所述固定部設置于設備主體1上端面的下方,并與設備主體1用螺絲33固定連接。該試驗基座3的凸出部31上設置有三個供三極管/二極管的引腳插入用的插入孔31a,所述插入孔31a的兩側均設置有支撐塊31b。
試驗時,先設定好工作的溫度、電流,接通電源,將待試驗的若干個三極管/二極管分別插入插入孔31a,加溫,調(diào)節(jié)電流,就可得知該三極管/二極管能在承受設定溫度、電流通電情況下,能工作多長時間,在同電一定時間后,斷掉電源,統(tǒng)計在該工作情況下,該些三極管/二極管的不良率,如此便可分析產(chǎn)品性能,從而提高產(chǎn)品可靠性。
綜上所述,本實施例結構簡單,成本低,體積小,可以方便快捷的得知三極管/二極管在承受設定溫度、設定電流下的最長工作時間,便于試驗使用,可以分析產(chǎn)品性能,提高產(chǎn)品可靠性。
上述具體實施方式,僅為說明本實用新型的技術構思和結構特征,目的在于讓相關人士能夠據(jù)以實施,但以上所述內(nèi)容并不限制本實用新型的保護范圍,凡是依據(jù)本實用新型的精神實質所作的任何等效變化或修飾,均應落入本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
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