[實用新型]芯片測試裝置有效
| 申請號： | 201420220940.7 | 申請日： | 2014-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN203811771U | 公開（公告）日： | 2014-09-03 |
| 發明（設計）人： | 王銳;夏群 | 申請（專利權）人： | 成都先進功率半導體股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 四川力久律師事務所 51221 | 代理人： | 王蕓;熊曉果 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種芯片測試裝置，包括PCB電路板和電源接口，其特征在于，所述PCB電路板上布置若干芯片插座，所述若干芯片插座在PCB電路板上從上至下均勻間隔布置，且該芯片插座包括用于芯片固定的插槽和用于與芯片引腳接觸的探針，所述探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片插座，所述探針伸出該芯片插座兩側的部分分別連接一電阻，位于該芯片插座一側的電阻分別接到電源接口的正端，位于該芯片插座另一側的電阻分別接到電源接口的負端。
2.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述芯片座上的探針有多對，每一對探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片座。
3.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述插槽內分別插入安裝有多個待測芯片的測試板。
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