[實用新型]芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201420220940.7
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN203811771U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 王銳;夏群
• 申請（專利權）人: 成都先進功率半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/01
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 王蕓;熊曉果

技術領域

本實用新型涉及芯片測試領域，特別涉及一種芯片測試裝置。

背景技術

目前對半導體芯片進行測試時，通過人工連線一個個將芯片的相應引腳與測試儀器連接，再使用測試儀器對芯片的各種電性能參數進行測試記錄，逐一單獨測試，測試效率低下。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術中所存在的上述不足，提供一種測試效率高的芯片測試裝置。

為了實現上述發明目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種芯片測試裝置，包括PCB電路板和電源接口，所述PCB電路板上布置若干芯片插座，所述若干芯片插座在PCB電路板上從上至下均勻間隔布置，且該芯片插座包括用于芯片固定的插槽和用于與芯片引腳接觸的探針，所述探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片插座，所述探針伸出該芯片插座兩側的部分分別連接一電阻，位于該芯片插座一側的電阻分別接到電源接口的正端，位于該芯片插座另一側的電阻分別接到電源接口的負端。

優選的，所述芯片座上的探針有多對，每一對探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片座。

優選的，所述插槽內分別插入安裝有多個待測芯片的測試板。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果：??

本實用新型的芯片測試裝置包括PCB電路板和電源接口，所述PCB電路板上布置若干芯片插座，所述若干芯片插座在PCB電路板上從上至下均勻間隔布置，且該芯片插座包括用于芯片固定的插槽和用于與芯片引腳接觸的探針，所述探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片插座，所述探針伸出該芯片插座兩側的部分分別連接一電阻，位于該芯片插座一側的電阻分別接到電源接口的正端，位于該芯片插座另一側的電阻分別接到電源接口的負端，工作時，電源接口通電，若干芯片插座插入安裝待測芯片的測試板，可同時測試一批芯片，測試效率大大提高。

附圖說明：

圖1是本實用新型實施例中的芯片測試裝置示意圖；

圖2是圖1中的芯片插座結構示意圖。

具體實施方式

下面結合具體實施方式對本實用新型作進一步的詳細描述。但不應將此理解為本實用新型上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本實用新型內容所實現的技術均屬于本實用新型的范圍。

如圖1所示的芯片測試裝置，包括PCB電路板2和電源接口1，所述PCB電路板2上布置若干芯片插座3，所述若干芯片插座3在PCB電路板上從上至下均勻間隔布置，圖中以2行為例說明，每行3個芯片插座，參看圖2，該芯片插座3包括基座301，基座301上具有用于芯片固定的插槽302和用于與芯片引腳接觸的探針303，所述探針303位于所述插槽302的底部兩側并伸出該芯片插座3，所述探針303伸出該芯片插座3兩側的部分分別連接一電阻4，位于該芯片插座3一側的電阻4分別接到電源接口1的正端，位于該芯片插座3另一側的電阻4分別接到電源接口1的負端。所述芯片插座3上的探針303有多對，圖中以3對為例說明，每一對探針303位于所述插槽302的底部兩側并伸出該芯片插座3。所述插槽302內分別插入安裝有多個待測芯片的測試板（圖未示），芯片引腳與測試板上的銅導線接觸，測試板底部具有多個導電接觸點，分別與其上的導線連接進而實現與芯片引腳連接，測試板插入插槽后，測試板上的導電接觸點與插槽內的探針分別接觸實現芯片相應引腳與測試裝置上的芯片插座的電連接。

本實用新型的芯片測試裝置包括PCB電路板2和電源接口1，所述PCB電路板2上布置若干芯片插座3，所述若干芯片插座3在PCB電路板2上從上至下均勻間隔布置，且該芯片插座3包括用于芯片固定的插槽和用于與芯片引腳接觸的探針，所述探針位于所述插槽的底部兩側并伸出該芯片插座，所述探針伸出該芯片插座兩側的部分分別連接一電阻，位于該芯片插座一側的電阻分別接到電源接口的正端，位于該芯片插座另一側的電阻分別接到電源接口的負端，工作時，電源接口通電，若干芯片插座插入安裝有待測芯片的測試板，可同時測試一批芯片，測試效率大大提高。

上面結合附圖對本實用新型的具體實施方式進行了詳細說明，但本實用新型并不限制于上述實施方式，在不脫離本申請的權利要求的精神和范圍情況下，本領域的技術人員可以作出各種修改或改型。