[實用新型]一種激光微加工過程的反射式監(jiān)測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420187421.5 | 申請日: | 2014-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN203765162U | 公開(公告)日: | 2014-08-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田其立;尉鵬飛;王楠;朱海永;黃曉虹;黃運米;金清理;楊光參 | 申請(專利權(quán))人: | 溫州大學 |
| 主分類號: | B23K26/03 | 分類號: | B23K26/03;B23K26/70;B23K26/00 |
| 代理公司: | 北京中北知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11253 | 代理人: | 李雪芳 |
| 地址: | 325000*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 加工 過程 反射 監(jiān)測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及激光微加工技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種激光微加工過程的反射式監(jiān)測裝置。
背景技術(shù)
目前,激光微加工過程中常用CCD攝像頭進行現(xiàn)場拍攝監(jiān)測。在高精度微加工過程中,甚至還需要在顯微鏡下操作來保證加工質(zhì)量。此類的監(jiān)測系統(tǒng)過于復(fù)雜,監(jiān)測成本也過于昂貴,特別是監(jiān)測采集到的數(shù)據(jù)為兩維圖像數(shù)據(jù)甚至是視頻數(shù)據(jù)流,造成數(shù)據(jù)量過于龐大。此外,加工過程中,材料的關(guān)鍵微納結(jié)構(gòu)的變化也無法進行顯著提示。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、適用性強、成本低廉、采集數(shù)據(jù)量小、采集速度快的激光微加工過程的反射式監(jiān)測裝置。
為實現(xiàn)上述目的,本實用新型提供了如下技術(shù)方案:一種激光微加工過程的反射式監(jiān)測裝置,包括氦氖激光器,所述氦氖激光器前端發(fā)射出的探測激光束發(fā)射線路上設(shè)置有工件,所述工件的探測激光束反射線路上設(shè)置有第一光電探頭,且氦氖激光器前端探測激光束發(fā)射線路中部設(shè)置有激光分束片,通過所述激光分束片將探測激光束具體分成參考信號和反射光信號,反射光信號經(jīng)過被工件的反射后進入第一光電探頭,所述參考光信號前端設(shè)置有第二光電探頭,參考光信號直接進入第二光電探頭,所述第一光電探頭上固定設(shè)置有第一數(shù)據(jù)線,第二光電探頭上固定設(shè)置有第二數(shù)據(jù)線,所述第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線之間設(shè)置有示波器,且第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線均與示波器電連接。
通過采用上述技術(shù)方案,工件材料在激光的微加工過程中,其表面結(jié)構(gòu)會發(fā)生明顯變化,從而影響反射光信號的反射強度(即反射光信號載有材料的表面結(jié)構(gòu)信息)。反射光信號通過與尚未被調(diào)制的參考光信號進行比對,從而解析出材料的表面結(jié)構(gòu)信息并實時顯示在示波器上,這樣就實現(xiàn)了激光微加工過程中的加工進程和加工效果的監(jiān)測。結(jié)構(gòu)簡單、適用性強、成本低廉、采集數(shù)據(jù)量小、采集速度快。
本實用新型進一步設(shè)置為:所述第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線載有工件信息的反射光信號通過第一數(shù)據(jù)線進入示波器,同時參考光信號通過第二數(shù)據(jù)線進入示波器。通過本設(shè)置,所述示波器與第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線結(jié)構(gòu)簡單,工作可靠。
本實用新型還進一步設(shè)置為:所述氦氖激光器發(fā)出的探測激光束,輸出波長為632.8nm。通過本設(shè)置,氦氖激光器工作穩(wěn)定,使用壽命長。
本實用新型還進一步設(shè)置為:所述激光分束片的分束比例為1:1。通過本設(shè)置,所述的激光分束片工作更加可靠。
本實用新型還進一步設(shè)置為:所述示波器為雙通道示波器。通過本設(shè)置,所述的示波器工作穩(wěn)定,使用壽命長。
本實用新型的優(yōu)點是:與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型結(jié)構(gòu)設(shè)置合理,工件材料在激光的微加工過程中,其表面結(jié)構(gòu)會發(fā)生明顯變化,從而影響反射光信號的反射強度(即反射光信號載有材料的表面結(jié)構(gòu)信息)。反射光信號通過與尚未被調(diào)制的參考光信號進行比對,從而解析出材料的表面結(jié)構(gòu)信息并實時顯示在示波器上,這樣就實現(xiàn)了激光微加工過程中的加工進程和加工效果的監(jiān)測。結(jié)構(gòu)簡單、適用性強、成本低廉、采集數(shù)據(jù)量小、采集速度快。
下面結(jié)合說明書附圖和具體實施例對本實用新型作進一步說明。
附圖說明
圖1為本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型應(yīng)用到激光雕刻設(shè)備上的裝配示意圖。
具體實施方式
參見圖1,本實用新型公開的一種激光微加工過程的反射式監(jiān)測裝置,包括氦氖激光器1,所述氦氖激光器1前端發(fā)射出的探測激光束11發(fā)射線路上設(shè)置有工件2,所述工件2的探測激光束11反射線路上設(shè)置有第一光電探頭3,且氦氖激光器1前端探測激光束11發(fā)射線路中部設(shè)置有激光分束片4,通過所述激光分束片4將探測激光束11具體分成參考信號41和反射光信號42,反射光信號42經(jīng)過被工件2的反射后進入第一光電探頭3,所述參考光信號41前端設(shè)置有第二光電探頭5,參考光信號41直接進入第二光電探頭5,所述第一光電探頭3上固定設(shè)置有第一數(shù)據(jù)線6,第二光電探頭5上固定設(shè)置有第二數(shù)據(jù)線7,所述第一數(shù)據(jù)線6和第二數(shù)據(jù)線7之間設(shè)置有示波器8,且第一數(shù)據(jù)線6和第二數(shù)據(jù)線7均與示波器8電連接。
為使本實用新型結(jié)構(gòu)更加合理,作為優(yōu)選的,所述第一數(shù)據(jù)線6和第二數(shù)據(jù)線7載有工件信息的反射光信號通過第一數(shù)據(jù)線6進入示波器8,同時參考光信號41通過第二數(shù)據(jù)線7進入示波器8。
所述氦氖激光器1發(fā)出的探測激光束,輸出波長為632.8nm。所述激光分束片4的分束比例為1:1。所述示波器8為雙通道示波器。
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