[實用新型]一種束光學探測系統有效
| 申請號: | 201420186194.4 | 申請日: | 2014-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN203881440U | 公開(公告)日: | 2014-10-15 |
| 發明(設計)人: | 詹志明 | 申請(專利權)人: | 江漢大學 |
| 主分類號: | G01J1/42 | 分類號: | G01J1/42;G01T1/29 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所 11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 430056 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光學 探測 系統 | ||
技術領域
本實用新型屬于原子頻標技術領域,具體涉及一種束光學探測系統。?
背景技術
當用分離場方法激勵超精細躍遷時,已知二耦合裝置的相位不同會引起Ramsey譜線中心頻率移動。但由于相位差隨時間變化,則躍遷頻率也不穩定。設第二作用區的相位比第一作用區落后90°,頻率約為半個線寬,所以相位差引起的頻移近似地為?
這個結果也可以從多普勒效應來理解。原子再穿過兩相互作用區感受輻射場的相位差為則產生的附加頻移即為?
考慮原子速率分布時,可對速率平均,并令?
d<Pmn>/dw=0(3)?
由此求得的由相位差引起的頻移為?
式中:?
束中有效原子的平均速率同束光學設計、耦合裝置強以及束中原子速率有關,為了減少此項頻移誤差,一般總是盡量減小,并盡可能精確的求得它的數值。?
實用新型內容
本實用新型所要解決的技術問題是提供一種減少頻移誤差的束光學探測系統。?
為解決上述技術問題,本實用新型的技術方案為:?
一種束光學探測系統,包括束光源、耦合裝置、振蕩腔和光電探測器,所述振蕩腔為U型振蕩腔,所述U型振蕩腔固定,在U型振蕩腔兩側分別安裝所述束光源和所述光電探測器,所述U型振蕩腔的兩豎板對應設置束孔,所述束光源通過所述耦合裝置的耦合孔將微波激勵信號輸入到U型振蕩腔腔體中,所述光電探測器與所述U型振蕩腔的任意一端束孔末端相連。?
進一步的,所述的束光學探測系統還包括輻射強度調節裝置和原子速度調節裝置,所述束光源分別同所述輻射強度調節裝置和原子速度調節裝置連接。?
進一步的,所述的束光學探測系統還包括參數調節裝置,所述參數調節裝置與所述耦合裝置連接。參數調節裝置采用單片機對耦合裝置發出的信號頻率、脈寬等參數進行調節。?
本實用新型的有益效果是通過固定U型振蕩腔,減小相位差數值,從而提高束光學探測的精度。?
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