[實用新型]一種束光學探測系統有效
| 申請號: | 201420186194.4 | 申請日: | 2014-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN203881440U | 公開(公告)日: | 2014-10-15 |
| 發明(設計)人: | 詹志明 | 申請(專利權)人: | 江漢大學 |
| 主分類號: | G01J1/42 | 分類號: | G01J1/42;G01T1/29 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所 11302 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 430056 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光學 探測 系統 | ||
1.一種束光學探測系統,包括束光源、耦合裝置、振蕩腔和光電探測器,其特征是,所述振蕩腔為U型振蕩腔,所述U型振蕩腔固定,在U型振蕩腔兩側分別安裝所述束光源和所述光電探測器,所述U型振蕩腔的兩豎板對應設置束孔,所述束光源通過所述耦合裝置的耦合孔將微波激勵信號輸入到U型振蕩腔腔體中,所述光電探測器與所述U型振蕩腔的任意一端束孔末端相連。
2.根據權利要求1所述的束光學探測系統,其特征在于,還包括輻射強度調節裝置和原子速度調節裝置,所述束光源分別同所述輻射強度調節裝置和原子速度調節裝置連接。
3.根據權利要求1或2所述的束光學探測系統,其特征在于,還包括參數調節裝置,所述參數調節裝置與所述耦合裝置連接。
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