[實用新型]一種光學元件涂墨檢測裝置

有效

• 申請號: 201420174686.1
• 申請日: 2014-04-11
• 公開（公告）號: CN203772756U
• 公開（公告）日: 2014-08-13
• 發明（設計）人: 楊文輝;沈乾勇
• 申請（專利權）人: 大英彰駿光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B11/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型屬于光學元件涂墨檢測技術領域，尤其是一種光學元件涂墨檢測裝置。

背景技術

涂墨一般用于吸收光學元件邊緣的光線，降低光學系統的雜散光系數，或用于吸收來自鏡筒和光闌的反射光，或使鏡頭的外觀更協調、美觀。墨是由主劑、固化劑和稀釋劑調配而成，如GT-7的配比為8:1:9~10，配比濃淡會影響涂層厚度，而涂層的厚度也與干燥條件和涂墨設備有關。因墨種、厚度和圓度偏心差會增加，所以涂墨技術指標要符合設計要求。在涂墨過程中常會出現針孔、發白、刷痕、脫墨、白點、積墨等缺陷，上述缺陷為墨種、涂墨工藝和涂墨厚度引起的，現在光學元件的涂墨質量檢測多為目力判定，容易引起分歧和糾紛，需要一種簡單的檢測裝置去判斷涂墨質量。

實用新型內容

本實用新型的目的是針對現有的技術存在的上述問題，提供一種光學元件涂墨檢測裝置，本實用新型解決的技術問題是涂墨質量判定。

為此，本實用新型所采取的技術解決方案是：

一種光學元件涂墨檢測裝置，待檢光學元件包括光學元件和涂墨，本裝置包括一個箱體和檢測幕，所述箱體內設有提供檢測光的光源、濾光器、避光室、圖像放大裝置，所述箱體在光學元件夾具上方設有放樣口，所述避光室在所述光學元件夾具上方設有取樣口，所述濾光器位于所述光源與所述避光室之間，固定在所述避光室左側，放大拆卸裝置把所述圖像放大裝置固定在避光室的右側，所述檢測幕設置在所述箱體的右側，所述檢測幕有測量刻度。

所述檢測光、所述濾光器的中心點和所述圖像放大裝置的焦點同軸。

所述放樣口、所述取樣口和所述光學元件夾具同軸。

所述測量刻度為網格狀，單格面積為0.25~1cm²。

上述技術方案的有益效果在于：

本實用新型裝置為涂墨質量判定提供了一種簡單有效的檢測工具，可用來判定涂墨的針孔、發白、刷痕、脫墨、白點、積墨等質量問題，比較目力判定有依據，不容易引起糾紛和分歧，檢測裝置簡單，易于制造，具有很高的實用價值和推廣價值；涂墨圖像對比可用于調整墨配比、干燥條件和調試涂墨設備。

附圖說明

圖1為本實用新型的光學元件涂墨檢測裝置的結構示意圖。

圖2為本實用新型的檢測幕的結構示意圖。

圖中：1、光源；2、箱體；3、濾光器；4、避光室；5、圖像放大裝置；6、檢測幕；7、光學元件；101、檢測光；201、放樣口；401、取樣口；402、光學元件夾具；501、放大拆卸裝置；601、測量刻度；701、涂墨。

具體實施方式

如圖1和圖2所示，一種光學元件涂墨檢測裝置，待檢光學元件包括光學元件7和涂墨701，本裝置包括一個箱體2和檢測幕6，所述箱體2內設有提供檢測光101的光源1、濾光器3、避光室4、圖像放大裝置5，所述箱體2在光學元件夾具402上方設有放樣口201，所述避光室4在所述光學元件夾具402上方設有取樣口401，所述濾光器3位于所述光源1與所述避光室4之間，固定在所述避光室4左側，放大拆卸裝置501把所述圖像放大裝置5固定在避光室4的右側，所述檢測幕6設置在所述箱體2的右側，所述檢測幕6有測量刻度601。

所述檢測光101、所述濾光器3的中心點和所述圖像放大裝置5的焦點同軸。

所述放樣口201、所述取樣口401和所述光學元件夾具402同軸。

所述測量刻度601為網格狀，單格面積為0.25~1cm²。

為使本實用新型的特點和優點更加清楚，下面結合具體實施例進行描述。

本實用新型檢測原理是：光學元件能透過光束，涂墨能吸收光線，光束通過待檢光學元件，可以形成明暗相間的投影，將投影放大成像，計算光路能測量涂墨厚度，檢測判定針孔、脫墨、白點和積墨等涂墨缺陷，可用于調整墨配比、干燥條件和調試涂墨設備。