[實用新型]一種光學元件涂墨檢測裝置有效
| 申請號： | 201420174686.1 | 申請日： | 2014-04-11 |
| 公開（公告）號： | CN203772756U | 公開（公告）日： | 2014-08-13 |
| 發明（設計）人： | 楊文輝;沈乾勇 | 申請（專利權）人： | 大英彰駿光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01B11/06 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 629300 四川省遂寧*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光學 元件 檢測 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種光學元件涂墨檢測裝置，待檢光學元件包括光學元件和涂墨，其特征在于：本裝置包括一個箱體和檢測幕，所述箱體內設有提供檢測光的光源、濾光器、避光室、圖像放大裝置，所述箱體在光學元件夾具上方設有放樣口，所述避光室在所述光學元件夾具上方設有取樣口，所述濾光器位于所述光源與所述避光室之間，固定在所述避光室左側，放大拆卸裝置把所述圖像放大裝置固定在避光室的右側，所述檢測幕位于所述箱體的右側，所述檢測幕設有測量刻度。
2.根據權利要求1所述的光學元件涂墨檢測裝置，其特征在于：所述檢測光、所述濾光器的中心點和所述圖像放大裝置的焦點同軸。
3.根據權利要求1所述的光學元件涂墨檢測裝置，其特征在于：所述放樣口、所述取樣口和所述光學元件夾具同軸。
4.根據權利要求1所述的光學元件涂墨檢測裝置，其特征在于：所述測量刻度為網格狀，單格面積為0.25?cm2~1cm2。
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