[實(shí)用新型]存儲(chǔ)器的快速內(nèi)建自測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420152201.9
• 申請日: 2014-03-31
• 公開（公告）號: CN203910275U
• 公開（公告）日: 2014-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 拜福君;熊保玉
• 申請（專利權(quán)）人: 西安華芯半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 西安西交通盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 61217
• 代理人: 王萌

【技術(shù)領(lǐng)域】

本實(shí)用新型屬于存儲(chǔ)器技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種存儲(chǔ)器的快速內(nèi)建自測試系統(tǒng)，尤其涉及一種嵌入式靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器的快速內(nèi)建自測試系統(tǒng)。?

【背景技術(shù)】

存儲(chǔ)器的內(nèi)建自自測試(MBIST)是一種廣泛應(yīng)用的可測性設(shè)計(jì)技術(shù)，它通過在芯片上內(nèi)建的硬件電路自動(dòng)實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器單元或陣列的測試。雖然會(huì)造成一定的面積損失，但是該損失所占芯片面積的比例很小，并且MBIST具有眾多的優(yōu)勢：首先它實(shí)現(xiàn)了可測試設(shè)計(jì)的自動(dòng)化，實(shí)現(xiàn)了高測試質(zhì)量、低測試成本的目標(biāo)；其次它可以利用系統(tǒng)時(shí)鐘進(jìn)行全速測試，實(shí)現(xiàn)了高故障覆蓋、低測試時(shí)間的目標(biāo)。因此MBIST是目前主流的嵌入式存儲(chǔ)器測試設(shè)計(jì)技術(shù)。在測試時(shí)，MBIST根據(jù)算法的不同需要對存儲(chǔ)器的所有地址進(jìn)行多次遍歷。存儲(chǔ)器數(shù)量越多，每個(gè)存儲(chǔ)器的容量越大，需要的測試時(shí)間也越長。隨著芯片的不斷發(fā)展進(jìn)步，芯片中使用的存儲(chǔ)器的數(shù)量和容量在不斷增加，造成測試時(shí)間的迅速增長。?

【實(shí)用新型內(nèi)容】

本實(shí)用新型的目的在于，提供一種存儲(chǔ)器的快速內(nèi)建自測試系統(tǒng)，以解決背景技術(shù)中測試時(shí)間增長問題。本實(shí)用新型在兼容傳統(tǒng)的內(nèi)建自測試的基礎(chǔ)上，通過增加若干個(gè)本地比較器并對控制器、測試向量生成器和全局比較器進(jìn)行調(diào)整，使用一個(gè)額外的控制信號可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對多個(gè)存儲(chǔ)器或者一個(gè)存儲(chǔ)器的多個(gè)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行并行測試，從而顯著減少測試時(shí)間。?

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案：?

存儲(chǔ)器的快速內(nèi)建自測試系統(tǒng)，包括一個(gè)控制器、一個(gè)測試向量產(chǎn)生器、一個(gè)全局比較器、N個(gè)存儲(chǔ)器和N-1個(gè)本地比較器；N為正整數(shù)；?

控制器表示當(dāng)前MBIST的工作狀態(tài)的輸出信號ST連接至測試向量產(chǎn)生器；?

控制器表示期望的存儲(chǔ)器輸出數(shù)據(jù)的輸出信號QX連接到全局比較器；?

控制器的輸出信號BP連接到所有的本地比較器，用于分別控制本地比較器輸出數(shù)據(jù)的選擇，能夠?qū)⑷我庖粋€(gè)存儲(chǔ)器的輸出連接至全局比較器；?

控制器的輸出信號MUX連接到所有的存儲(chǔ)器；?

全局比較器的輸入QX0和RES0連接至第N-1個(gè)本地比較器；?

全局比較器表示期望的輸出數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)器實(shí)際輸出數(shù)據(jù)的最終比較結(jié)果的輸出RES連接到控制器；?

第N-1個(gè)本地比較器的輸入數(shù)據(jù)為第N個(gè)存儲(chǔ)器的輸出數(shù)據(jù)Q_n-1和第N-1個(gè)存儲(chǔ)器的輸出數(shù)據(jù)Q_n-2；其輸出數(shù)據(jù)QX_N-1連接至第N-2個(gè)本地比較器的輸入數(shù)據(jù)；第N-1個(gè)本地比較器輸出比較結(jié)果RES_n-1連接至第N-2個(gè)本地比較器的輸入比較結(jié)果；除了第N-1個(gè)本地比較器外，第n個(gè)本地比較器的輸入數(shù)據(jù)為第n個(gè)存儲(chǔ)器的輸出數(shù)據(jù)Q_n和第n+1個(gè)本地比較器的輸出數(shù)據(jù)QX_n+1；第n個(gè)本地比較器輸出比較結(jié)果RES_n連接至第n-1個(gè)本地比較器的輸入比較結(jié)果；n≤N-1；?

測試向量產(chǎn)生器連接控制器和所有存儲(chǔ)器。?

本實(shí)用新型進(jìn)一步的改進(jìn)在于：第一個(gè)本地比較器的輸入比較結(jié)果RES2，固定為‘0’；在MBIST開始時(shí)，MUX為‘1’，存儲(chǔ)器連接至MBIST；當(dāng)MUX為‘0’時(shí)，存儲(chǔ)器與MIBST斷開，并連接到系統(tǒng)總線；控制器連接到外界的信號有輸入時(shí)鐘信號CLK、輸入信號START、輸入信號ALL、輸入信號RESET、輸出信號FINISH和輸出信號FAIL；輸入信號START為‘1’時(shí)，MBIST開始工作；輸入信號ALL為‘1’時(shí)MBIST進(jìn)入并行測試模式，對所有存儲(chǔ)器同時(shí)進(jìn)行測試；輸入信號ALL為‘0’時(shí)MBIST工作在兼容模式，對所有存儲(chǔ)器逐個(gè)進(jìn)行測試；輸入信號RESET為‘1’時(shí)，對MBIST進(jìn)行復(fù)位；輸出信號FINISH為‘1’表示MBIST已經(jīng)完成測試；輸出信號FAIL為‘1’表示MBIST發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。?

本實(shí)用新型進(jìn)一步的改進(jìn)在于：測試向量產(chǎn)生器的輸出信號DONE連接到控制器；當(dāng)DONE為‘1’時(shí)，表示一次遍歷測試算法執(zhí)行完畢；測試向量發(fā)生器的輸出信號VEC連接所有存儲(chǔ)器，表示其所產(chǎn)生的測試向量，其中包括存儲(chǔ)器片選使能信號和讀寫命令CMD。?