[實用新型]存儲器的快速內建自測試系統有效

申請號：	201420152201.9	申請日：	2014-03-31
公開（公告）號：	CN203910275U	公開（公告）日：	2014-10-29
發明（設計）人：	拜福君;熊保玉	申請（專利權）人：	西安華芯半導體有限公司
主分類號：	G11C29/12	分類號：	G11C29/12
代理公司：	西安西交通盛知識產權代理有限責任公司 61217	代理人：	王萌
地址：	710055 陜西省西安***	國省代碼：	陜西;61
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	存儲器快速測試系統
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.存儲器的快速內建自測試系統，其特征在于，包括一個控制器(12)、一個測試向量產生器(11)、一個全局比較器(13)、N個存儲器和N-1個本地比較器；N為正整數；?

控制器(12)表示當前存儲器的內建自測試MBIST的工作狀態的輸出信號ST連接至測試向量產生器(11)；?

控制器(12)表示期望的存儲器輸出數據的輸出信號QX連接到全局比較器(13)；?

控制器(12)的輸出信號BP連接到所有的本地比較器，用于分別控制本地比較器輸出數據的選擇，能夠將任意一個存儲器的輸出連接至全局比較器(13)；?

控制器(12)的輸出信號MUX連接到所有的存儲器；?

全局比較器(13)的輸入QX0和RES0連接至第N-1個本地比較器；?

全局比較器(13)表示期望的輸出數據和存儲器實際輸出數據的最終比較結果的輸出RES連接到控制器(12)；?

第N-1個本地比較器的輸入數據為第N個存儲器的輸出數據Q_n-1和第N-1個存儲器的輸出數據Q_n-2；其輸出數據QX_N-1連接至第N-2個本地比較器的輸入數據；第N-1個本地比較器輸出比較結果RES_n-1連接至第N-2個本地比較器的輸入比較結果；除了第N-1個本地比較器外，第n個本地比較器的輸入數據為第n個存儲器的輸出數據Q_n和第n+1個本地比較器的輸出數據QX_n+1；第n個本地比較器輸出比較結果RES_n連接至第n-1個本地比較器的輸入比較結果；n≤N-1；?

測試向量產生器(11)連接控制器(12)和所有存儲器。?

下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會員，免費下載

該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安華芯半導體有限公司，未經西安華芯半導體有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201420152201.9/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。