[實用新型]LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統

有效

• 申請號: 201420110924.2
• 申請日: 2014-03-12
• 公開（公告）號: CN203745602U
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 何選民
• 申請（專利權）人: 何選民
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市金筆知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44297
• 代理人: 胡清方;彭友華

技術領域

本實用新型涉及一種LED的光電性能相對標準的陣列評估測試系統。

背景技術

LED在出廠前需要進行很多性的測試，其中光學性能和電學性能是很重要的兩個項目。

現有對LED的這兩個項目的測試有兩種方法，一種是單顆LED的方法，就是將單顆LED通過光譜儀或積分球測量后再根據標準樣品進行修正測量；這種方法的缺陷是這種方法只能針對單顆封裝后成品LED的測量,無法對批量LED生產封裝前的光電性能進行測試評估。

二是LED的陣列測試方法，它適合于對批量LED生產封裝前的光電性能的測試評估，這種方法大多采用LED陣列測試系統，該裝置至少包括???????測試控制單元、光參數測試模塊、電參數測試模塊和矩陣開關模塊，矩陣開關模塊與所述光參數測試模塊和電參數測試模塊電連接，所述測試控制單元控制光參數測試模塊、電參數測試模塊和矩陣開關模塊協調工作，使用時將從產品中隨機挑出來的用于被測的LED，排列成陣列結構的LED，然后將陣列結構的LED放在夾具上，所述測試控制單元控制矩陣開關模塊分別點亮夾具上的其中幾顆LED，這時，光參數測試模塊和電參數測試模塊分別測出這幾顆LED光參數和電參數，并存儲相應參數；然后，測試人員從陣列排布的LED上取下已被測試的幾顆LED，再拿到光譜儀或積分球測量與樣品進行對照測量，得到修正參數；測量人員再將修正參數輸入給LED陣列測試系統，得出本批產品的相對光電參數值。

LED陣列測試系統只能測試陣列LED的光電參數，而不能同時進行相對標準的評估測試，無法滿足生產中快速判定LED光電的性能要求。且這種測試系統使用超來比較繁鎖，不方便操作人員快捷測試。

實用新型內容

?????為了克服上述問題，本實用新型向社會提供一種不僅能測試陣列LED的光色電參數，而且還能同時進行相對標準的評估，且操作方便快捷的LED的光電性能相對標準的評估測試系統。

本實用新型的技術方案是：提供一種LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，包括測試系統主體、被測LED矩陣開關、采光機構和LED承載平臺，其中，

所述測試系統主體用于測試被測LED的光電參數；

所述被測LED矩陣開關受控于所述測試系統主體，用于按順序點亮承載平臺的被測LED安裝工位上的被測LED，同時，采集被點亮的被測LED的電學性能供測試系統主體測試電學參數；

所述采光機構用于采集被測LED的光信號，并將光信號傳輸給測試系統主體進行光色參數的測試；

還包括受控于所述測試系統主體的樣品測試矩陣開關，以及在所述LED承載平臺上還設有用于放置被測LED樣品的樣品安裝工位，移動所述LED承載平臺，所述測試系統主體分別對被測LED樣品的光電參數和被測LED的光電參數進行測試；

作為對本實用新型的改進，還對測試的被測LED樣品的光電參數和被測LED的光電參數進行存儲，并依據被測LED樣品的光電參數校正被測LED的光電參數。

作為對本實用新型的改進，還包括機臺，所述測試系統主體設置在機臺的一側面上，所述采光機構設置在機臺另一側上方，所述被測LED矩陣開關的導電觸點和樣品測試矩陣開關的導電觸點設置在采光機構的下方，被測LED安裝工位和被測LED樣品的樣品安裝工位設置在所述LED承載平臺上，移動所述LED承載平臺可以分別使被測LED樣品的樣品安裝工位上的被測LED樣品的連接腳與樣品測試矩陣開關的導電觸點電性連接；或者使被測LED的安裝工位上的被測LED的連接腳與被測LED測試矩陣開關的導電觸點電性連接。

作為對本實用新型的改進，所述LED承載平臺包括長方形底板，在所述底板的長邊兩側分別設有第一側板和第二側板，在所述長方形底板的一端短邊側設有第三側板，所述被測LED安裝工位設置在靠近第三側板的長方形底板上，而所述被測LED樣品的樣品安裝工位設置在遠離第三側板的長方形底板上。

作為對本實用新型的改進，在所述第一側板和第二側板的外側面上分別設有滑條，用于與采光機構的外殼的相應部位滑動連接。

作為對本實用新型的改進，所述測試系統主體包括測試控制單元、光參數測試模塊和電參數測試模塊，其中，

所述光參數測試模塊用于接收采光機構傳輸過來的光信號，對LED的光色參數進行測試；

所述電參數測試模塊用于對LED的電學參數；

所述測試控制單元用于控制光參數測試模塊、電參數測試模塊、樣品測試矩陣開關、被測LED測試矩陣開關和采光機構和協調工作。