[實用新型]LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統

有效

• 申請號: 201420110924.2
• 申請日: 2014-03-12
• 公開（公告）號: CN203745602U
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 何選民
• 申請（專利權）人: 何選民
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04;G01M11/02
• 代理公司: 深圳市金筆知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44297
• 代理人: 胡清方;彭友華

1.一種LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，包括測試系統主體、被測LED矩陣開關、采光機構和LED承載平臺，其中，

所述測試系統主體用于測試被測LED的光電參數；

所述被測LED矩陣開關受控于所述測試系統主體，用于按順序點亮承載平臺的被測LED安裝工位上的被測LED，同時，采集被點亮的被測LED的電學性能供測試系統主體測試電學參數；

所述采光機構用于采集被測LED的光信號，并將光信號傳輸給測試系統主體進行光色參數的測試；

其特征在于：還包括受控于所述測試系統主體的樣品測試矩陣開關，以及在所述LED承載平臺上還設有用于放置被測LED樣品的樣品安裝工位，移動所述LED承載平臺，所述測試系統主體測試分別對被測LED樣品的光電參數和被測LED的光電參數進行測試。

2.如權利要求1所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：還包括機臺，所述測試系統主體設置在機臺的一側面上，所述采光機構設置在機臺另一側上方，所述被測LED矩陣開關的導電觸點和樣品測試矩陣開關的導電觸點設置在采光機構的下方，被測LED安裝工位和被測LED樣品的樣品安裝工位設置在所述LED承載平臺上，移動所述LED承載平臺可以分別使被測LED樣品的樣品安裝工位上的被測LED樣品的連接腳與樣品測試矩陣開關的導電觸點電性連接；或者使被測LED的安裝工位上的被測LED的連接腳與被測LED測試矩陣開關的導電觸點電性連接。

3.如權利要求1或2所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：所述LED承載平臺包括長方形底板，在所述底板的長邊兩側分別設有第一側板和第二側板，在所述長方形底板的一端短邊側設有第三側板，所述被測LED安裝工位設置在靠近第三側板的長方形底板上，而所述被測LED樣品的樣品安裝工位設置在遠離第三側板的長方形底板上。

4.如權利要求3所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：在所述第一側板和第二側板的外側面上分別設有滑條，用于與采光機構的外殼的相應部位滑動連接。

5.如權利要求1或2所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：所述測試系統主體包括測試控制單元、光參數測試模塊和電參數測試模塊，其中，

所述光參數測試模塊用于接收采光機構傳輸過來的光信號，對LED的光色參數進行測試；

所述電參數測試模塊用于對LED的電學參數；

所述測試控制單元用于控制光參數測試模塊、電參數測試模塊、樣品測試矩陣開關、被測LED測試矩陣開關和采光機構和協調工作。

6.如權利要求1或2所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：所述LED承載平臺還包括被測LED安裝夾具和被測LED樣品安裝夾具，所述被測LED安裝夾具用于固定被測LED，并將被測LED定位在所述被測LED安裝工位上；所述被測LED樣品安裝夾具用于固定被測LED樣品，并將被測LED樣品定位在所述被測LED樣品安裝工位上。

7.如權利要求1或2所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：所述采光機構包括積分球，所述積分球通過與采光窗口耦合的光纖連接到光譜裝置，所述光譜裝置將光信號變成電信號后，輸送到光參數測試模塊進行色度測試。

8.如權利要求1或2所述的LED光電性能相對標準的陣列評估測試系統，其特征在于：所述采光機構包括光亮度探測器，所述光亮度探測器與積分球耦合，將光強信號轉化為相應的數字信號，輸送到光參數測試模塊進行光亮度測試。