[實用新型]一種晶體電阻率測試裝置有效
| 申請號： | 201420091919.1 | 申請日： | 2014-02-28 |
| 公開（公告）號： | CN203759122U | 公開（公告）日： | 2014-08-06 |
| 發明（設計）人： | 趙海泉;賈玉昌;王世武 | 申請（專利權）人： | 青島海泰光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411 | 代理人： | 鄭自群 |
| 地址： | 266101 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 晶體 電阻率 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種晶體電阻率測試裝置，包括底板、豎直桿和兩根橫桿，所述豎直桿固定在所述底板上，其特征在于：
所述豎直桿的頂端設有銷軸；
所述第一橫桿的一端設有與所述銷軸相配合的銷孔，另一端固定連接有第一電極；
所述豎直桿上固定連接有第二橫桿，所述第二橫桿連接有第二電極；
所述第二電極與所述底板之間設有帶有探頭的壓力測試裝置。
2.如權利要求1所述的一種晶體電阻率測試裝置，其特征在于；
所述壓力測試裝置的探頭通過螺栓與所述第二電極固定連接。
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