[發明專利]一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置在審
| 申請號: | 201410853152.6 | 申請日: | 2014-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN104573590A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發明(設計)人: | 趙志偉;林魁 | 申請(專利權)人: | 福建聯迪商用設備有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/00 | 分類號: | G06K7/00;G01B5/00 |
| 代理公司: | 福州市鼓樓區博深專利代理事務所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 林志崢 |
| 地址: | 350003 福建省福州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 檢測 磁頭 方法 磁卡 測試 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及電子支付領域,尤其是涉及一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置。
背景技術
目前市場上使用機器檢測磁頭刷卡的有效性,機器成本較高,不具有通用性。
因此需要一種工裝(裝置)適用于POS機、金融刷卡產品、銀行磁卡規范核準中,工裝具有功能有1:對銀行發行的磁卡檢測是否滿足磁卡標準。2:檢測金融支付產品、POS機,使用磁頭刷卡時,磁頭位置包括磁頭中心位置,磁頭有效覆蓋面積是否滿足磁頭刷卡標準。電子支付主要是通過電子支付產品的磁頭與磁卡進行刷卡比對信息,來支付。本工裝通過先檢測磁卡是否為合格卡,再檢測刷卡后磁頭的有效位置是與磁卡上信息比對,來支付。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:提供一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置。
為了解決上述技術問題,本發明采用的技術方案為:
一種用于檢測磁頭的方法,包括以下步驟:
S100、將在磁道位置顯影處理后的待測試磁卡放置在磁卡測試裝置上,所述磁卡測試裝置上設有磁卡定位槽,用于定位磁卡;所述磁卡定位槽的尺寸符合標準磁卡尺寸要求;
S200、將步驟S100所得待測試磁卡放置在所述磁卡定位槽中,判斷所述待測試磁卡的尺寸是否符合標準磁卡尺寸要求,若所述待測試磁卡的尺寸不符合標準磁卡尺寸要求,則所述待測試磁卡為不合格磁卡;若所述待測試磁卡的尺寸符合標準磁卡尺寸要求,則進入步驟S300;
S300、所述磁卡測試裝置設有磁道測試模塊;所述磁道測試模塊符合標準磁卡的磁道測試;判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求,若所述待測試磁卡的磁道符合磁道測試模塊的測試要求,則所述待測試磁卡為合格磁卡;若所述待測試磁卡的磁道不符合磁道測試模塊的測試要求,則所述待測試磁卡為不合格磁卡;
S400、將合格的磁卡通過待測試磁頭進行刷卡操作,比對磁頭劃過的位置是否符合標準磁卡的磁道測試要求,若符合標準磁卡的磁道測試要求,則所述待測試磁頭為合格磁頭。
本發明采用的另一技術方案為:
一種磁卡測試裝置,所述裝置設有呈矩形狀凹槽,所述凹槽的尺寸與標準磁卡相適配,所述凹槽用于測試待測試磁卡的尺寸是否符合標準;所述裝置還設有一個以上的磁道測試裝置,所述磁道測試裝置包括第一測試模塊和第二測試模塊;
所述第一測試模塊包括第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽;所述第一凹槽與第二凹槽相對設置,所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽依次平行設置,所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽的開口在同一側;所述第一凹槽的側壁上設有第一凸起,所述第一凸起與第一凹槽開口方向相垂直,所述第二凹槽的側壁上設有第二凸起,所述第二凸起與第二凹槽開口方向相垂直;所述第三凹槽與第四凹槽之間設有第三凸起,所述第四凹槽與第五凹槽之間設有第四凸起;所述第一凸起與第三凹槽相對設置,所述第二凸起與第五凹槽相對設置;
所述第二測試模塊包括第五凸起,所述第五凸起與第四凹槽相對設置;
所述第二凹槽與第五凹槽之間設有第六凹槽;
所述裝置設有三個磁道測試裝置,分別為第一磁道測試裝置、第二磁道測試裝置和第三磁道測試裝置;所述第一磁道測試裝置、第二磁道測試裝置和第三磁道測試裝置相互平行設置;
所述第一磁道測試裝置的第三凹槽、第二磁道測試裝置的第三凹槽和第三磁道測試裝置的第三凹槽并列設置;
所述第一磁道測試裝置的第四凹槽、第二磁道測試裝置的第四凹槽和第三磁道測試裝置的第四凹槽并列設置;
所述第一磁道測試裝置的第五凹槽、第二磁道測試裝置的第五凹槽和第三磁道測試裝置的第五凹槽并列設置;
所述第一凸起與第三凹槽相適配;所述第二凸起與第五凹槽相適配。
本發明的有益效果在于:通過在磁卡測試裝置上設有磁卡定位槽,用于定位磁卡和判斷待測試磁卡的尺寸是否符合要求,若待測試磁卡的尺寸不符合要求,則對于磁卡上所附帶信息的磁條是否標準而言就無任何意義,因此需要優先確定待測試磁卡的尺寸是否符合要求;其次,將顯影處理的待測試磁卡與POS機及金融刷卡產品磁頭進行刷卡,若磁頭劃過的有效刷卡位置在裝置的磁頭中心及磁頭位置判定標準范圍內,即磁頭的有效刷卡位置符合要求。通過本發明提供的方法,能夠檢測磁頭是否為合格磁頭。
附圖說明
圖1為本發明具體實施方式的用于檢測磁頭的方法的步驟流程圖;
圖2為本發明具體實施方式的磁卡測試裝置的結構示意圖;
標號說明:
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