[發(fā)明專利]一種用于檢測(cè)磁頭的方法及磁卡測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410853152.6
• 申請(qǐng)日: 2014-12-31
• 公開（公告）號(hào): CN104573590A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙志偉;林魁
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 福建聯(lián)迪商用設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G06K7/00
• 分類號(hào): G06K7/00;G01B5/00
• 代理公司: 福州市鼓樓區(qū)博深專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35214
• 代理人: 林志崢

1.一種用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S100、將在磁道位置顯影處理后的待測(cè)試磁卡放置在磁卡測(cè)試裝置上，所述磁卡測(cè)試裝置上設(shè)有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求；

S200、將步驟S100所得待測(cè)試磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判斷所述待測(cè)試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，若所述待測(cè)試磁卡的尺寸不符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則所述待測(cè)試磁卡為不合格磁卡；若所述待測(cè)試磁卡的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則進(jìn)入步驟S300；

S300、所述磁卡測(cè)試裝置設(shè)有磁道測(cè)試模塊；所述磁道測(cè)試模塊符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測(cè)試；判斷步驟S200所得待測(cè)試磁卡的磁道是否符合磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求，若所述待測(cè)試磁卡的磁道符合磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡；若所述待測(cè)試磁卡的磁道不符合磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為不合格磁卡；

S400、將合格的磁卡通過(guò)待測(cè)試磁頭進(jìn)行刷卡操作，比對(duì)磁頭劃過(guò)的位置是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測(cè)試要求，若符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁頭為合格磁頭。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S200判斷所得待測(cè)試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求具體為：所述磁卡定位槽的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸最大允許范圍，若所述待測(cè)試磁卡能夠放入所述磁卡定位槽，則所述待測(cè)試磁卡符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300判斷步驟S200所得待測(cè)試磁卡的磁道是否符合磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求具體為：所述磁道測(cè)試模塊設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的三道磁道，若所述待測(cè)試磁卡的三道磁道符合所述磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡；所述磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求為：所述待測(cè)試磁卡的三道磁道均在標(biāo)準(zhǔn)磁卡的三道磁道最大允許范圍內(nèi)時(shí)，所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300判斷步驟S200所得待測(cè)試磁卡的磁道是否符合磁道測(cè)試模塊的測(cè)試要求還包括：所述磁道測(cè)試模塊設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁頭中心，若所述待測(cè)試磁卡的三道磁道的中心位置符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁頭中心位置，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300還包括：所述磁卡測(cè)試裝置上設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的測(cè)試模塊，判斷所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的測(cè)試要求，若所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡；所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的測(cè)試要求具體為：所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的測(cè)試模塊設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的有效起始范圍與終止范圍，所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域在標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域的有效范圍內(nèi)時(shí)，所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述磁卡測(cè)試裝置上設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的測(cè)試模塊，判斷所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域凸字高度是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的測(cè)試要求，若所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域凸字高度符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡；所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的測(cè)試要求具體為：所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的測(cè)試模塊設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)磁卡數(shù)字區(qū)域凸字高度的有效高度范圍，所述待測(cè)試磁卡的數(shù)字區(qū)域凸字高度在有效高度范圍內(nèi)時(shí)，所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300還包括：所述磁卡測(cè)試裝置上設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的測(cè)試模塊，判斷所述待測(cè)試磁卡的地址區(qū)域是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的測(cè)試要求，若所述待測(cè)試磁卡的地址區(qū)域符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的測(cè)試要求，則所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡；所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的測(cè)試要求具體為：所述標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的測(cè)試模塊設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的有效起始范圍與終止范圍，所述待測(cè)試磁卡的地址區(qū)域在標(biāo)準(zhǔn)磁卡地址區(qū)域的有效范圍內(nèi)時(shí)，所述待測(cè)試磁卡為合格磁卡。