[發明專利]一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置

在審

• 申請號: 201410853152.6
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104573590A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 趙志偉;林魁
• 申請（專利權）人: 福建聯迪商用設備有限公司
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00;G01B5/00
• 代理公司: 福州市鼓樓區博深專利代理事務所(普通合伙) 35214
• 代理人: 林志崢

1.一種用于檢測磁頭的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S100、將在磁道位置顯影處理后的待測試磁卡放置在磁卡測試裝置上，所述磁卡測試裝置上設有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合標準磁卡尺寸要求；

S200、將步驟S100所得待測試磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判斷所述待測試磁卡的尺寸是否符合標準磁卡尺寸要求，若所述待測試磁卡的尺寸不符合標準磁卡尺寸要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；若所述待測試磁卡的尺寸符合標準磁卡尺寸要求，則進入步驟S300；

S300、所述磁卡測試裝置設有磁道測試模塊；所述磁道測試模塊符合標準磁卡的磁道測試；判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求，若所述待測試磁卡的磁道符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；若所述待測試磁卡的磁道不符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；

S400、將合格的磁卡通過待測試磁頭進行刷卡操作，比對磁頭劃過的位置是否符合標準磁卡的磁道測試要求，若符合標準磁卡的磁道測試要求，則所述待測試磁頭為合格磁頭。

2.根據權利要求1所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S200判斷所得待測試磁卡的尺寸是否符合標準磁卡尺寸要求具體為：所述磁卡定位槽的尺寸符合標準磁卡尺寸最大允許范圍，若所述待測試磁卡能夠放入所述磁卡定位槽，則所述待測試磁卡符合標準磁卡尺寸要求。

3.根據權利要求1所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求具體為：所述磁道測試模塊設有符合標準磁卡的三道磁道，若所述待測試磁卡的三道磁道符合所述磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；所述磁道測試模塊的測試要求為：所述待測試磁卡的三道磁道均在標準磁卡的三道磁道最大允許范圍內時，所述待測試磁卡為合格磁卡。

4.根據權利要求3所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求還包括：所述磁道測試模塊設有符合標準磁卡的磁頭中心，若所述待測試磁卡的三道磁道的中心位置符合標準磁卡的磁頭中心位置，則所述待測試磁卡為合格磁卡。

5.根據權利要求1所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300還包括：所述磁卡測試裝置上設有符合標準磁卡數字區域的測試模塊，判斷所述待測試磁卡的數字區域是否符合標準磁卡數字區域的測試要求，若所述待測試磁卡的數字區域符合標準磁卡數字區域的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；所述標準磁卡數字區域的測試要求具體為：所述標準磁卡數字區域的測試模塊設有標準磁卡數字區域的有效起始范圍與終止范圍，所述待測試磁卡的數字區域在標準磁卡數字區域的有效范圍內時，所述待測試磁卡為合格磁卡。

6.根據權利要求5所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述磁卡測試裝置上設有符合標準磁卡數字區域凸字高度的測試模塊，判斷所述待測試磁卡的數字區域凸字高度是否符合標準磁卡數字區域凸字高度的測試要求，若所述待測試磁卡的數字區域凸字高度符合標準磁卡數字區域凸字高度的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；所述標準磁卡數字區域凸字高度的測試要求具體為：所述標準磁卡數字區域凸字高度的測試模塊設有標準磁卡數字區域凸字高度的有效高度范圍，所述待測試磁卡的數字區域凸字高度在有效高度范圍內時，所述待測試磁卡為合格磁卡。

7.根據權利要求1所述的用于檢測磁頭的方法，其特征在于，所述步驟S300還包括：所述磁卡測試裝置上設有符合標準磁卡地址區域的測試模塊，判斷所述待測試磁卡的地址區域是否符合標準磁卡地址區域的測試要求，若所述待測試磁卡的地址區域符合標準磁卡地址區域的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；所述標準磁卡地址區域的測試要求具體為：所述標準磁卡地址區域的測試模塊設有標準磁卡地址區域的有效起始范圍與終止范圍，所述待測試磁卡的地址區域在標準磁卡地址區域的有效范圍內時，所述待測試磁卡為合格磁卡。