[發明專利]一種AOI光學檢測設備

在審

• 申請號: 201410839397.3
• 申請日: 2014-12-30
• 公開（公告）號: CN104568985A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 王慶富
• 申請（專利權）人: 東莞市合易自動化科技有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司 44215
• 代理人: 李玉平

技術領域

本發明涉及PCB板制作技術領域，具體的說，涉及一種AOI光學檢測設備。

背景技術

隨著社會的發展，電子產品越來越多，電子產品與我們的日常生活息息相關，電子產品中的PCB板在生產過程中，電子元件的插接焊接過程中，一般會出現不良品焊點，因此需要對PCB板進行檢測，對不良品的焊點進行再次加工，以提高良品率，目前，很多的廠家采用AOI裝置對PCB板進行檢測，如果發現有壞的焊點，則對有壞的焊點PCB板進行標記，然后再由人工進行修復；由于PCB板的焊接工藝要求較高，采用人工修復，質量難以保證，且效率較低。

發明內容

本發明的目的在于解決現有技術的不足，提供一種能夠對不良焊點能夠精確定位的AOI光學檢測設備。

為實現上述目的而采用的技術方案為：

一種AOI光學檢測設備，包括：

圖像采集模塊，用于對PCB板進行拍照，獲取PCB板的表面圖像；

坐標分析模塊，對獲取的表面圖像進行坐標劃分；

圖像分析模塊，對表面圖像進行分析，找出PCB板上不良焊點以及不良焊點所對應的坐標區域，

存儲模塊，對表面圖像信息、圖像坐標信息以及不良焊點的坐標信息進行對應存儲；

?信號發射模塊，將PCB板的表面圖像信息、圖像坐標信息以及不良焊點的坐標信息向外發射；

處理器，處理器分別與圖像采集模塊、坐標分析模塊、圖像分析模塊、存儲模塊以及信號發射模塊信號連接。

本技術方案工作時，圖像采集模塊先采集一塊良品PCB板圖像作為對比基礎圖片；然后圖像采集模塊分別采集要修正的PCB板圖像，并將該圖像存儲于存儲模塊內，處理器調取圖像分析模塊對采集的PCB板圖像以及良品PCB板圖像進行分析對比，并找出不良點；接著處理器調取坐標分析模塊對PCB板圖像進行劃分坐標，分析出不良焊點對應的坐標；并將不良焊點的坐標信息存儲于存儲器。

圖像采集模塊相對PCB板進行圖像采集，圖像分析模塊分析出表面的焊點；根據焊點的圖像特征找出沒錫、少錫、聯錫等不良焊點，再結合坐標分析模塊，對PCB板進行劃分坐標，找出不良焊點的對應坐標區域；坐標區域可以是坐標點、一定封閉范圍等；然后處理器將不良焊點的坐標信息存儲于存儲模塊內，并通過信號發射模塊對外發射，以便后續工藝的設備接收。

進一步地，還包括設備DPR，所述存儲模塊設有A文件和B文件，PCB板的不良焊點坐標信息以一定格式寫入A文件，設備DPR按順序讀取A文件，并按記錄加載文件開始工作，結束后按格式寫入文件B。

進一步地，還包括設備DPS，設備DPS從B文件按順序讀取1行記錄(先判斷C文件已經寫到的流水號)，并按記錄加載文件開始工作，?結束后按格式寫入Ｃ文件。

本發明的有益效果為：本發明可對不良焊點進行準確定位，并按照搬運工時序控制方式的方式對外發送信號，節約人工成本，提高產品生產效率及其品質。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步的說明。

實施例：

一種AOI光學檢測設備，包括：

圖像采集模塊，用于對PCB板進行拍照，獲取PCB板的表面圖像；

坐標分析模塊，對獲取的表面圖像進行坐標劃分；

圖像分析模塊，對表面圖像進行分析，找出PCB板上不良焊點以及不良焊點所對應的坐標區域，

存儲模塊，對表面圖像信息、圖像坐標信息以及不良焊點的坐標信息進行對應存儲；

?信號發射模塊，將PCB板的表面圖像信息、圖像坐標信息以及不良焊點的坐標信息向外發射；

處理器，處理器分別與圖像采集模塊、坐標分析模塊、圖像分析模塊、存儲模塊以及信號發射模塊信號連接。

本技術方案工作時，圖像采集模塊相對PCB板進行圖像采集，分析出表面的焊點，根據焊點的圖像特征找出沒錫、少錫、聯錫等不良焊點，再結合坐標分析模塊，對PCB板進行劃分坐標，找出不良焊點的對應坐標區域；坐標區域可以是坐標點、一定封閉范圍等；然后處理器將不良焊點的坐標信息存儲于存儲模塊內，并通過信號發射模塊對外發射，以便后續工藝的設備接收。

進一步地，還包括設備DPR，所述存儲模塊設有A文件和B文件，PCB板的圖像信息以一定格式寫入A文件，設備DPR按順序讀取A文件，并按記錄加載文件開始工作，結束后按格式寫入文件B；