[發(fā)明專利]一種AOI光學(xué)檢測設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410839397.3 | 申請日: | 2014-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN104568985A | 公開(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王慶富 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞市合易自動化科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956 |
| 代理公司: | 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44215 | 代理人: | 李玉平 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞市橫瀝*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 aoi 光學(xué) 檢測 設(shè)備 | ||
1.一種AOI光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于:包括:
圖像采集模塊,用于對PCB板進行拍照,獲取PCB板的表面圖像;
坐標(biāo)分析模塊,對獲取的表面圖像進行坐標(biāo)劃分;
圖像分析模塊,對表面圖像進行分析,找出PCB板上不良焊點以及不良焊點所對應(yīng)的坐標(biāo)區(qū)域,
存儲模塊,對表面圖像信息、圖像坐標(biāo)信息以及不良焊點的坐標(biāo)信息進行對應(yīng)存儲;
?信號發(fā)射模塊,將PCB板的表面圖像信息、圖像坐標(biāo)信息以及不良焊點的坐標(biāo)信息向外發(fā)射;
處理器,處理器分別與圖像采集模塊、坐標(biāo)分析模塊、圖像分析模塊、存儲模塊以及信號發(fā)射模塊信號連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于:還包括設(shè)備DPR,所述存儲模塊設(shè)有A文件和B文件,PCB板的圖像信息寫入A文件,設(shè)備DPR按順序讀取A文件,并按記錄記載文件開始工作,結(jié)束后按格式寫入文件B。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種AOI光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于:還包括設(shè)備DPS,設(shè)備DPS從B文件按順序讀取1行記錄,并按記錄加載文件開始工作,?結(jié)束后按格式寫入C文件。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





