[發明專利]一種非易失存儲器的糾錯方法和裝置有效
| 申請號: | 201410835827.4 | 申請日: | 2014-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN105788647B | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發明(設計)人: | 劉會娟 | 申請(專利權)人: | 北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/42 | 分類號: | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人: | 劉祥景 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 非易失 存儲器 糾錯 方法 裝置 | ||
1.一種非易失存儲器的糾錯方法,其特征在于,所述方法包括:
周期性地對非易失存儲器樣本中頁執行讀、寫和擦除操作;
依據所述非易失存儲器樣本中頁在所述讀、寫和擦除操作過程中錯誤數據出現的數目和位置,統計非易失存儲器中頁的錯誤數據分布規律;
依據所述頁的錯誤數據分布規律對頁進行區域劃分,針對不同區域確定對應的糾錯碼;
利用各區域對應的糾錯碼,進行各區域的糾錯處理。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述依據所述非易失存儲器樣本中頁在所述讀、寫和擦除操作過程中錯誤數據出現的數目和位置,統計非易失存儲器中頁的錯誤數據分布規律,包括:
記錄所述非易失存儲器樣本中頁在所述讀、寫和擦除操作過程中錯誤數據出現的數目和位置,將記錄結果繪制成錯誤數據分布圖形;
依據所述錯誤數據分布圖形統計非易失存儲器中頁的錯誤數據分布規律。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述周期性地對非易失存儲器樣本中頁執行讀、寫和擦除操作,包括:
周期性地對非易失存儲器樣本中頁執行讀、寫和擦除操作,直至所述非易失存儲器樣本中的所有非易失存儲器耗盡壽命。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述依據所述頁的錯誤數據分布規律對頁進行區域劃分,針對不同區域確定對應的糾錯碼,包括:
依據所述頁的錯誤數據分布規律將所述頁劃分為對應的區域;
依據各區域中對應的錯誤數據量確定各區域對應的糾錯碼。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述非易失存儲器包括Nand Flash存儲器。
6.一種非易失存儲器的糾錯裝置,其特征在于,所述裝置包括:
樣本測試模塊,用于周期性地對非易失存儲器樣本中頁執行讀、寫和擦除操作;
錯誤統計模塊,用于依據所述非易失存儲器樣本中頁在所述讀、寫和擦除操作過程中錯誤數據出現的數目和位置,統計非易失存儲器中頁的錯誤數據分布規律;
區域劃分模塊,用于依據所述頁的錯誤數據分布規律對頁進行區域劃分,針對不同區域確定對應的糾錯碼;以及
糾錯模塊,用于利用各區域對應的糾錯碼,進行各區域的糾錯處理。
7.如權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述錯誤統計模塊,包括:
記錄單元,用于記錄所述非易失存儲器樣本中頁在所述讀、寫和擦除操作過程中錯誤數據出現的數目和位置,將記錄結果繪制成錯誤數據分布圖形;
統計單元,用于依據所述錯誤數據分布圖形統計非易失存儲器中頁的錯誤數據分布規律。
8.如權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述樣本測試模塊,包括:
測試單元,用于周期性地對非易失存儲器樣本中頁執行讀、寫和擦除操作,直至所述非易失存儲器樣本中的所有非易失存儲器耗盡壽命。
9.如權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述區域劃分模塊,包括:
區域劃分單元,用于依據所述頁的錯誤數據分布規律將所述頁劃分為對應的區域;
糾錯碼確定單元,用于依據各區域中對應的錯誤數據量確定各區域對應的糾錯碼。
10.如權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述非易失存儲器包括Nand Flash存儲器。
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