[發明專利]OLED顯示屏性能恢復的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410833369.0
• 申請日: 2014-12-26
• 公開（公告）號: CN104537969B
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 余明火;洪文生
• 申請（專利權）人: 深圳創維-RGB電子有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/20
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及OLED技術領域，尤其涉及OLED顯示屏性能恢復的方法及裝置。

背景技術

隨著社會的發展，OLED(Organic Light Emitting Display有機發光顯示屏)顯示屏得到快速發展，OLED顯示屏不需要背光源，該屏采用非常薄的有機材料涂層和玻璃基板，當有電流通過時，這些有機材料就會發光。主動矩陣為OLED的一種，該種OLED(AMOLED)具有完整的陰極層，有機分子層以及陽極層，陽極層覆蓋著一個薄膜晶體管(TFT)陣列，形成一個矩陣，而TFT陣列本身就是一個電路，能決定哪些像素發光，進而決定圖像的構成。但是TFT存在漂移特性，在長時間工作的情況下，TFT器件會發生明顯的漂移，使得OLED燈的實際灰度和標準灰度不同，從而使得顯示屏的顯示結果不準確，不利于用戶的觀看。

上述內容僅用于輔助理解本發明的技術方案，并不代表承認上述內容是現有技術。

發明內容

本發明的主要目的在于解決OLED顯示屏工作一定時間后薄膜晶體管發生特性偏移的技術問題。

為實現上述目的，本發明提供的一種OLED顯示屏性能恢復的方法，所述OLED顯示屏性能恢復的方法包括以下步驟：

檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值；所述特性參數值包括通過所述薄膜晶體管的電流檢測值和所述薄膜晶體管兩端的電壓檢測值；

根據預置的特性曲線獲取所述電壓檢測值對應的電流標準值；

判斷所述電流檢測值是否在所述電流標準值對應的誤差范圍內；

當所述電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內。

優選地，在所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值的步驟之前還包括：

檢測所述OLED顯示屏的啟動指令；

當檢測到所述啟動指令時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

優選地，在所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值的步驟之前還包括：

記錄所述OLED顯示屏的工作時間；

當所述工作時間達到預設值T時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

優選地，在所述薄膜晶體管兩端加載反向電壓，使所述電流檢測值等于預置的所述電流標準值的步驟之前還包括：

檢測所述OLED顯示屏的修復指令；

當所述OLED顯示屏接收到所述修復指令時，執行在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內。

優選地，所述當電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內的步驟具體包括：

當所述電流檢測值小于所述電流標準值的誤差范圍的最小值時，在所述薄膜晶體管的兩端加載正向電壓，直至所述電流檢測值回到所述電流標準值的誤差范圍內；

當所述電流檢測值大于所述電流標準值的誤差范圍的最大值時，在所述薄膜晶體管的兩端加載負向電壓，直至所述電流檢測值回到所述電流標準值的誤差范圍內。

此外，為實現上述目的，本發明還提供一種OLED顯示屏性能恢復的裝置，所述OLED顯示屏性能恢復的裝置包括：

第一檢測模塊，用于檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值；所述特性參數值包括通過所述薄膜晶體管的電流檢測值和所述薄膜晶體管兩端的電壓檢測值；

獲取模塊，用于根據預置的特性曲線獲取所述電壓檢測值對應的電流標準值；

判斷模塊，用于判斷所述電流檢測值是否在所述電流標準值對應的誤差范圍內；

修正模塊，用于當所述電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內。

優選地，所述OLED顯示屏性能恢復的裝置還包括：

第二檢測模塊，用于檢測所述OLED顯示屏的啟動指令；

當檢測到所述啟動指令時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

優選地，所述OLED顯示屏性能恢復的裝置還包括：

計時模塊，用于記錄所述OLED顯示屏的工作時間；

當所述工作時間達到預設值T時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。