[發明專利]OLED顯示屏性能恢復的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410833369.0
• 申請日: 2014-12-26
• 公開（公告）號: CN104537969B
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 余明火;洪文生
• 申請（專利權）人: 深圳創維-RGB電子有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/20
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所44287
• 代理人: 胡海國

1.一種OLED顯示屏性能恢復的方法，其特征在于，所述OLED顯示屏性能恢復的方法包括以下步驟：

檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值；所述特性參數值包括通過所述薄膜晶體管的電流檢測值和所述薄膜晶體管兩端的電壓檢測值；

根據預置的特性曲線獲取與所述電壓檢測值對應的電流標準值；其中，所述預置的特性曲線由逐一檢測出的每一薄膜晶體管的特性參數形成，逐一檢測的特性參數作為特性參數值的預置標準值，預置標準值包括電壓標準值和電流標準值；

判斷所述電流檢測值是否在所述電流標準值對應的誤差范圍內；

當所述電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內，以使整個所述OLED顯示屏保持標準的顯示效果；

在所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值的步驟之前還包括：

記錄所述OLED顯示屏的工作時間；

當所述工作時間達到預設值T時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

2.如權利要求1所述的OLED顯示屏性能恢復的方法，其特征在于，在所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值的步驟之前還包括：

檢測所述OLED顯示屏的啟動指令；

當檢測到所述啟動指令時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

3.如權利要求1所述的OLED顯示屏性能恢復的方法，其特征在于，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內的步驟之前還包括：

檢測所述OLED顯示屏所接收到修復指令；

當所述OLED顯示屏接收到所述修復指令時，執行在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內。

4.如權利要求1所述的OLED顯示屏性能恢復的方法，其特征在于，所述當電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內的步驟具體包括：

當所述電流檢測值小于所述電流標準值的誤差范圍的最小值時，在所述薄膜晶體管的兩端加載正向電壓，直至所述電流檢測值回到所述電流標準值的誤差范圍內；

當所述電流檢測值大于所述電流標準值的誤差范圍的最大值時，在所述薄膜晶體管的兩端加載負向電壓，直至所述電流檢測值回到所述電流標準值的誤差范圍內。

5.一種OLED顯示屏性能恢復的裝置，其特征在于，所述OLED顯示屏性能恢復的裝置包括：

第一檢測模塊，用于檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值；所述特性參數值包括通過所述薄膜晶體管的電流檢測值和所述薄膜晶體管兩端的電壓檢測值；

獲取模塊，用于根據預置的特性曲線獲取所述電壓檢測值對應的電流標準值；其中，所述預置的特性曲線由逐一檢測出的每一薄膜晶體管的特性參數形成，逐一檢測的特性參數作為特性參數值的預置標準值，預置標準值包括電壓標準值和電流標準值；

判斷模塊，用于判斷所述電流檢測值是否在所述電流標準值對應的誤差范圍內；

修正模塊，用于當所述電流檢測值未在所述電流標準值預置的誤差范圍內時，在所述薄膜晶體管兩端加載特定電壓，使所述電流檢測值回到所述電流標準值預置的誤差范圍內，以使整個所述OLED顯示屏保持標準的顯示效果；

所述OLED顯示屏性能恢復的裝置還包括：

計時模塊，用于記錄所述OLED顯示屏的工作時間；

當所述工作時間達到預設值T時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。

6.如權利要求5所述的OLED顯示屏性能恢復的裝置，其特征在于，所述OLED顯示屏性能恢復的裝置還包括：

第二檢測模塊，用于檢測所述OLED顯示屏的啟動指令；

當檢測到所述啟動指令時，執行所述檢測OLED顯示屏上的薄膜晶體管的特性參數值。