[發明專利]鈍化方法有效
| 申請號: | 201410826112.2 | 申請日: | 2014-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN105374886A | 公開(公告)日: | 2016-03-02 |
| 發明(設計)人: | 呂維倫;盧俊安;吳志力 | 申請(專利權)人: | 臺積太陽能股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/06;H01L31/18;H01L21/473 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鈍化 方法 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能模塊,更具體地,涉及薄膜太陽能模塊。
背景技術
諸如CIS-基太陽能模塊(例如,銅銦鎵(二)硒或銅銦鋁(二)硒) (也稱為“CIGS”)的傳統的薄膜太陽能模塊在吸收層和鄰近的CdS緩沖 層之間缺乏有效的鈍化。有效鈍化的缺乏通過多余的二元物質或缺陷(諸 如Mcu+、CuxSe1-x或CuxS1-x)提供分流路徑。這轉而限制了改進器件的開 路電壓(Voc)和分流電阻的能力,從而限制了提高器件的帶隙的能力,并 因此限制了提高器件的性能的能力。
而且,迄今為止,已知的提高接近CIGS吸收層的能帶間隙的有效方 法僅是通過硫摻入或Ga扁平化。
發明內容
為了解決現有技術中所存在的缺陷,根據本發明的一方面,提供了一 種太陽能電池模塊,包括:襯底;吸收層,形成在所述襯底上方;多孔氧 化鋁鈍化層,形成在所述吸收層的上表面上;緩沖層,共形地形成在所述 鈍化層上方;以及透明導電氧化物層,共形地形成在所述緩沖層上方。
在該太陽能電池模塊中,所述吸收層是薄膜吸收層。
在該太陽能電池模塊中,所述吸收層是CIGS層。
該太陽能電池模塊還包括在所述CIGS層的上表面處形成的Cu(In, Al)Se2區。
在該太陽能電池模塊中,所述Cu(In,Al)Se2區的帶隙介于約1.09 至1.57之間。
在該太陽能電池模塊中,所述太陽能電池模塊是晶體硅太陽能電池模 塊。
根據本發明的另一方面,提供了一種鈍化太陽能電池模塊的吸收層的 方法,包括以下步驟:提供在其上方形成有吸收層的襯底;以及在所述吸 收層的上表面上形成多孔氧化鋁鈍化層。
該方法還包括:在所述鈍化層上方共形地形成緩沖層;以及在所述緩 沖層上方共形地形成透明導電氧化物層。
在該方法中,所述吸收層是CIGS層。
在該方法中,形成所述多孔氧化鋁鈍化層的步驟包括在所述吸收層上 直接沉積氧化鋁膜。
在該方法中,通過濺射沉積所述氧化鋁膜。
在該方法中,在氧氣環境中進行所述濺射,所述方法還包括控制沉積 壓力和氧氣氣體比的步驟以控制氧化鋁鈍化層的孔隙尺寸。
在該方法中,所述吸收層是CIGS層。
在該方法中,形成所述多孔氧化鋁鈍化層的步驟包括:在所述吸收層 上沉積鋁(Al)膜;氧化所述鋁膜以形成氧化鋁鈍化層。
在該方法中,所述氧化步驟包括在第一偏置電壓下在氧化浴中處理所 述鋁膜第一時間段,然后在第二偏置電壓下在所述氧化浴中處理所述鋁膜 第二時間段,所述第二偏置電壓大于所述第一偏置電壓。
在該方法中,所訴第二時間段大于所述第一時間段。
在該方法中,所述第二時間段期間的所述氧化浴的溫度低于所述第一 時間段期間的所述氧化浴的溫度。
在該方法中,所述吸收層是CIGS層。
在該方法中,所述吸收層是CIGS層,在形成所述氧化鋁層的步驟之 后,所述方法還包括實施退火步驟以在所述CIGS層的上表面處形成Cu (In,Al)Se2區。
根據本發明的又一方面,提供了一種形成多孔氧化鋁鈍化層的方法, 包括以下步驟:在層上沉積將被鈍化的鋁(Al)膜;在第一偏置電壓和第 一溫度下,在氧化浴中處理沉積的鋁膜第一持續時間段,以形成多孔氧化 鋁層;在所述處理步驟之后,通過在所述氧化浴中處理所述氧化鋁層并且 控制在所述氧化浴中處理所述氧化鋁層的偏置電壓、溫度和持續時間而使 所述多孔氧化鋁層的孔隙敞開。
附圖說明
當結合附圖進行閱讀時,通過以下詳細描述可以更好地理解本發明的 各方面。應該注意,根據工業中的標準實踐,各個部件未按比例繪制。實 際上,為了清楚的討論,各個部件的尺寸可以任意地增大或減小。
圖1示出了根據一些實施例的形成用于太陽能電池模塊的鈍化吸收層 的方法。
圖2示出了根據一些實施例的用于形成多孔氧化鋁鈍化層的陽極氧化 方法。
圖3示出了具有多孔氧化鋁鈍化層的薄膜太陽能電池模塊的實施例。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于臺積太陽能股份有限公司,未經臺積太陽能股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410826112.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





