[發(fā)明專利]一種光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410820514.1 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104483104B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秦琦;吳南健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100083 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光電 探測(cè)器 光譜 響應(yīng) 分析 系統(tǒng) | ||
1.一種待測(cè)光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,包括:
可控單色光源(1),用于在一定波段內(nèi)以連續(xù)可調(diào)的方式輸出固定頻率的單色光波;
探測(cè)器室(3),其包括至少一個(gè)參考光電探測(cè)器和待測(cè)光電探測(cè)器,所述至少一個(gè)參考光電探測(cè)器和待測(cè)光電探測(cè)器用于探測(cè)所述單色光波的光譜響應(yīng)信號(hào)并輸出;以及
控制裝置(4),用于控制所述可控單色光源(1)以及探測(cè)器室(3),并接收所述光譜響應(yīng)信號(hào),以生成待測(cè)光電探測(cè)器的相對(duì)光譜響應(yīng)曲線;
所述可控單色光源(1)包括至少一個(gè)光源、光學(xué)斬波器(15)、濾光輪片(16)和分光裝置,所述光學(xué)斬波器(15)與控制裝置(4)相連,并按照所述控制裝置(4)輸出的設(shè)定頻率對(duì)所述至少一個(gè)光源輸出的光波進(jìn)行斬波調(diào)制,將連續(xù)光波調(diào)制為固定頻率的單色光波,并將所述固定頻率輸出至控制裝置(4),用于與所述控制裝置(4)內(nèi)的鎖相放大器配合使用;在光路上,濾光輪片(16)位于光學(xué)斬波器(15)的下游,用于消除多級(jí)光譜,經(jīng)斬波調(diào)制后的光依次經(jīng)過(guò)所述濾光輪片(16)和入射狹縫,進(jìn)入分光光路;所述濾光輪片(16)能夠在控制裝置(4)輸出的設(shè)定的光源工作波段,自動(dòng)更換濾光片;所述分光裝置用于將光源所發(fā)射出的光波,分解成不同波長(zhǎng)的單色光波,并形成一定波段內(nèi)的連續(xù)光譜;
所述分光裝置包括準(zhǔn)直凹面鏡(17)、平面反射光柵(19)、成像凹面鏡(18);入射狹縫位于準(zhǔn)直凹面鏡(17)的焦平面,通過(guò)入射狹縫的光波經(jīng)準(zhǔn)直凹面(17)反射,形成平行光束投射到安裝于六棱柱上的平面反射光柵(19)上;經(jīng)平面反射光柵(19)色散和成像凹面鏡(18)反射,最終在出射狹縫上獲得單色光波信號(hào);所述入射狹狹縫和出射狹縫固定設(shè)置于可控單色光源(1)的殼體上。
2.如權(quán)利要求1所述的光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括準(zhǔn)直光路(2),所述準(zhǔn)直光路(2)設(shè)置在可控單色光源(1)和探測(cè)器室(3)之間,用于對(duì)所述可控單色光源(1)輸出的單色光波的發(fā)散角進(jìn)行調(diào)整。
3.如權(quán)利要求1所述的光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括阻尼隔振平臺(tái)(5),其作為水平基臺(tái),用于承載所述可控單色光源(1)和探測(cè)器室(3)。
4.如權(quán)利要求1所述的光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,所述探測(cè)器室(3)還包括光闌(31)和光學(xué)衰減器(32),用于進(jìn)行入射光光強(qiáng)控制。
5.如權(quán)利要求4所述的光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,所述探測(cè)器室(3)還包括步進(jìn)電機(jī),所述步進(jìn)電機(jī)由所述控制裝置(4)控制,而自動(dòng)驅(qū)動(dòng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)切換被照射樣品。
6.如權(quán)利要求1所述的光電探測(cè)器光譜響應(yīng)分析系統(tǒng),其特征在于,在測(cè)試時(shí),所述控制裝置(4)控制所述探測(cè)器室(3)獲取無(wú)光照情況下參考光電探測(cè)器和待測(cè)光電探測(cè)器的電流輸出值和所述單色光波光照情況下參考光電探測(cè)器和待測(cè)光電探測(cè)器的電流輸出值。
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