[發明專利]一種緊縮場天線測量同步反射點區域確定方法

在審

• 申請號: 201410796746.8
• 申請日: 2014-12-18
• 公開（公告）號: CN104535858A
• 公開（公告）日: 2015-04-22
• 發明（設計）人: 馬永光;馬蔚宇;楊金濤;錢冰華
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張文祎

技術領域

本發明涉及反射點區域確定方法，特別是涉及一種緊縮場天線測量同步反射點區域確定方法。

背景技術

隨著天線測量技術的發展，對天線電磁特性的測量精度要求越來越高。緊縮場可以在近距離內提供天線測量所需要的平面波環境，已成為天線測量常用的一種方式。緊縮場天線測量系統布局示意圖如圖1所示，緊縮場饋源發出球面波，照射到緊縮場反射面，經反射后轉換為平面波，處于測試區中的待測天線接收該平面波。測試區是緊縮場平面波質量最好的一個區域，緊縮場饋源發射電磁波，待測天線接收平面波形式的電磁波。上述測量可以獲得待測天線方向圖主瓣、旁瓣以及后瓣的分布等電磁特性。

當前在緊縮場內測量天線特性時，常用的一種數據處理方式是采用掃頻測量模式，然后將掃頻結果變換到時域，通過加時域窗，剔除其它時間反射到待測天線的反射信號。如圖2所示，圖中測試曲線有多個峰值，如峰值<1>、峰值<2>、峰值<3>、峰值<4>等，圖2中峰值<3>即代表待測天線的接收信號，其它峰值代表為緊縮場內某些部位的較大反射信號，對測試信號峰值<3>加合適的時域窗函數，就可以把不需要的其它反射信號(如峰值<1>、峰值<2>、峰值<4>等)剔除，這些較大的峰值信號均具有明確的物理含義，與緊縮場暗室的幾何布局及緊縮場暗室內部擺放物品相關。由于這些反射信號被待測天線接收的時間與待測天線接收的直射平面波信號時間不同，所以均可以通過時間門剔除，僅得到矩形框內的待測天線接收信號。但這種處理方式無法剔除待緊縮場內緊縮場饋源發出的發射波經緊縮場內反射部位反射到達待測天線的反射信號與緊縮場饋源發射波經緊縮場反射面轉換后發出的再到待測天線的直射波信號時間相同的有干擾作用的反射信號，即如果反射信號與直射信號時間同步，則通過現有的時域加門方式，無法剔除。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種緊縮場天線測量同步反射點區域確定方法，以快速找到緊縮場內反射信號與直射波信號同時到達接收天線的最大同步反射點區域。

為解決上述技術問題，本發明采用下述技術方案：

一種緊縮場天線測量同步反射點區域確定方法，該方法包括如下步驟：

在緊縮場暗室中建立三維直角坐標系；

在所述三維直角坐標系中確定緊縮場饋源所在位置T；根據所述緊縮場饋源的位置和測試區的位置確定緊縮場反射面所在位置；以所述緊縮場饋源所在位置T和所述待測天線所在測試區內任意一點到所述緊縮場反射面水平方向最近的位置點A和最遠的位置點B作為焦點，并以所述緊縮場饋源發射波經所述緊縮場反射面到所述測試區的距離的最小值和最大值為長軸長度，在所述緊縮場暗室中構建兩個橢球面；

所述兩個橢球面及兩橢球面之間的空間即為所述緊縮場天線測量同步反射點區域。

優選地，所述三維直角坐標系以所述緊縮場暗室任意一墻角為坐標系原點O，以長度方向為X軸，以寬度方向為Y軸，以高度方向為Z軸。

所述在所述三維直角坐標系中確定緊縮場饋源所在位置T的步驟包括：

確定所述緊縮場饋源所在位置T在所述三維直角坐標系中的三維坐標，所述緊縮場饋源所在位置T的三維坐標為(X_T，Y_T，Z_T)；

所述緊縮場饋源的位置和測試區的位置確定緊縮場反射面所在位置的步驟包括；

根據所述緊縮場饋源的位置和測試區的位置確定所述緊縮場反射面上反射點M的三維坐標，所述M點為所述緊縮場反射面中軸線交點，反射面中心高度位置，所述緊縮場反射面上反射點M的三維坐標為(X_M，Y_M，Z_M)；

所述以所述緊縮場饋源所在位置T和所述待測天線所在測試區內任意一點到所述緊縮場反射面水平方向最近的位置點A和最遠的位置點B作為焦點，并以所述緊縮場饋源發射波經所述緊縮場反射面到所述測試區的距離的最小值和最大值為長軸長度，在所述緊縮場暗室中構建兩個橢球面的步驟包括：

確定所述緊縮場饋源經所述緊縮場反射面到測試區距離最近的位置點A的三維坐標，確定所述緊縮場饋源經所述緊縮場反射面到測試區距離最遠的位置點B的三維坐標，所述位置點A的三維坐標為(X_A，Y_A，Z_A),所述位置點B的三維坐標為(X_B，Y_B，Z_B)；